BUCHI 近紅外光譜 NIRFlex N-500

模塊化 FT-NIR 光譜儀
近紅外 NIRFlex N-500 是模塊化 FT-NIR 光譜儀，用于為應(yīng)用科學(xué)和各個行業(yè)的 QC、研發(fā)提供可靠的結(jié)果。近紅外 NIRFlex N-500 提供廣泛的測量單元和附件，實現(xiàn)靈活的性能。

預(yù)期使用壽命:雙燈模塊 2 x 6000 h
靈活性:不同的測量單元
光譜儀類型:極化 FT-NIR

快速、安全、簡單

這款模塊化的 FT-NIR 光譜儀可在幾秒鐘內(nèi)同時提供多個參數(shù)的結(jié)果。系統(tǒng)使用中不涉及化學(xué)品和溶劑，可幫助您節(jié)省成本并提高流程的安全性。近紅外 NIRFlex N-500 的操作簡單、直觀，實現(xiàn)的用戶體驗。

高效

得益于近紅外 NIRFlex N-500 的快速分析結(jié)果，可快速優(yōu)化流程。模塊化 FT-NIR 光譜儀是一款經(jīng)濟高效的解決方案，擁有成本低。您可以自行更換常用備件，且不需要定期重新校準(zhǔn)儀器。通過雙燈保護的連續(xù)操作，提高流程效率。

可靠且靈活

得益于近紅外 NIRFlex N-500 的波長精度，實現(xiàn)精確的結(jié)果?？稍趦x器之間輕松直接地轉(zhuǎn)移校準(zhǔn)。可通過專門的測量選項精確分析不同的樣品類型，包括固體、粉末、片劑、顆粒、膏體、液體形式。

特性

雙燈模式

在 NIR 光譜儀的可用性方面，BUCHI 已經(jīng)樹立了新的標(biāo)準(zhǔn)。我們的 NIR 光譜儀配備有雙燈模式，在這種模式下，如果主光源發(fā)生故障，會自動切換到第二個集成式燈。這樣可將儀器故障的風(fēng)險降至，并預(yù)留充足的時間來定購備用燈。同時，您可繼續(xù)測量工作，不會受到更多干擾。

BUCHI 偏振干涉儀

BUCHI 通過使用折光率的晶體已經(jīng)成功改造了石英偏振干涉儀。這樣可以提供分辨率和緊湊設(shè)計，同時又保持了對機械擾動不敏感的優(yōu)點。該干涉儀在惡劣環(huán)境中能夠保持性能的原因在于：在厚度可變的雙折射晶體中，利用兩個光束的空間運動偏差和光路偏移。在 Michelson 型干涉儀中，機械形變會直接影響干涉效果，但在晶體干涉儀中，這種影響會被降低 10 至 20 倍。

一體化標(biāo)準(zhǔn)

每個 BUCHI FT-NIR 光譜儀都配備有各種灰色濾光片并設(shè)置了一種波長標(biāo)準(zhǔn)。它們使用專門設(shè)計的軟件模塊，能夠?qū)ΣㄩL精度、信噪比和線性度進行檢查。這些測量結(jié)果構(gòu)成了醫(yī)藥工業(yè)中的系統(tǒng)穩(wěn)定性測試 (SST)，從而達到規(guī)定要求。