電感耦合等離子體質(zhì)譜 (ICP-MS)7900 ICP-MS
Agilent 7900 ICP-MS 開啟了單四極桿 ICP-MS 的新紀元
Agilent 7900 ICP-MS 是一款靈活的單四極桿電感耦合等離子體質(zhì)譜儀，可提供非常出色的基質(zhì)耐受性、有效的氦碰撞模式、超低的檢測限和寬廣的動態(tài)范圍。因此，無論樣品類型如何，您都可以確信始終報告準確的數(shù)據(jù)，即使在痕量分析中也是如此。
7900 ICP-MS 為要求苛刻的商業(yè)和工業(yè)應(yīng)用提供了超高的性能，并具有研究和高級分析（例如形態(tài)分析）所需的靈活性。高靈敏度和瞬時信號的快速采集是單納米顆粒 (spICP-MS)、單細胞分析和激光剝蝕所必需的，讓您能夠在競爭中脫穎而出。
特性
- 超穩(wěn)定的（低 CeO/Ce）等離子體可提供出色的基質(zhì)耐受能力
- 超高基質(zhì)進樣系統(tǒng) (UHMI) 使您能夠運行總?cè)芙夤腆w量 (TDS) 高達 25% 的樣品
- 氦 (He) 池氣體模式能夠可靠地控制多原子干擾，從而改善準確度
- 離軸透鏡可在整個質(zhì)量范圍內(nèi)提供高靈敏度和低檢測限
- 寬動態(tài)范圍檢測器使您可以在同一次樣品運行中分析常量和痕量元素
- 快速積分（駐留時間 0.1 ms）支持分析快速瞬態(tài)信號，例如單納米顆粒 (spICP-MS)
- ICP-MS MassHunter 方法向?qū)Э蓭椭詣訕?gòu)建方法
- 配置靈活，可輕松連接至可選附件和外圍設(shè)備，適用于高級應(yīng)用
應(yīng)用
使用 HPLC-ICP-MS 進行一體化多元素形態(tài)分析
Agilent 7900 ICP-MS 可提供要求的應(yīng)用所需的靈活性。針對安捷倫液相色譜系統(tǒng)提供全面的連接支持和集中的軟件控制，能夠?qū)崿F(xiàn)常規(guī)以及高性能的形態(tài)分析。同時還支持其他色譜分離（例如 GC、CE 和 FFF。
HPLC-ICP-MS 高級功能包括自動切換色譜柱和流動相，能夠在一次無人值守運行序列中分析多種 HPLC-ICP-MS 方法。
單納米顆粒 (sNP) 分析的高靈敏度和快速信號采集
在激光剝蝕 (LA) ICP-MS 成像應(yīng)用中，高靈敏度是檢測極小納米顆粒 (NP) 的重要因素，也是獲得理想空間分辨率的關(guān)鍵。
7900 在整個質(zhì)量數(shù)范圍內(nèi)具有出色的靈敏度，結(jié)合優(yōu)化的 0.1 ms 駐留時間，可實現(xiàn)快速時間分辨分析 (TRA) 采集。將高靈敏度與 ICP-MS 高穩(wěn)定性等離子體以及寬動態(tài)范圍檢測器相結(jié)合，可輕松實現(xiàn)常量元素分析。
利用靈活的配置和較高的性能輕松應(yīng)對 ICP-MS 高級應(yīng)用
7900 可提供要求的應(yīng)用所需的靈活性。利用 ORS4 碰撞/反應(yīng)池有效控制干擾，并結(jié)合高效的冷等離子體，實現(xiàn)高純度加工化學品的超痕量分析?？蛇x的樣品引入工具包能夠?qū)崿F(xiàn)有機溶劑和腐蝕性樣品（例如 HF）的常規(guī)分析。
易于連接至第三方外圍設(shè)備（例如激光剝蝕 (LA-ICP-MS)），從而實現(xiàn)固體的直接、高靈敏度分析。
Agilent 7900 ICP-MS 開啟了單四極桿 ICP-MS 的新紀元
ICP-MS 能否兼具高性能、靈活性和易用性？答案是肯定的。
7900 ICP-MS 具有出色的基質(zhì)耐受能力、高靈敏度、寬動態(tài)范圍，以及用于控制多原 子干擾的的氦氣碰撞池模式。這種高性能與一系列自動調(diào)諧、方法設(shè)置和數(shù) 據(jù)分析工具相結(jié)合，使 ICP-MS 的操作比以往更輕松。 創(chuàng)新技術(shù)和新版 MassHunter 軟件平臺相結(jié)合，使 Agilent 7900 成為更強大、自動化 程度更高的四極桿 ICP-MS。 7900 的基質(zhì)耐受能力擴展為百分之幾十的 TDS，并具有 11 個數(shù)量級的線性動態(tài)范圍。 此外，更新后的八極桿反應(yīng)池系統(tǒng) (ORS) 可支持更高效的氦氣碰撞模式。無論何種應(yīng) 用，Agilent 7900 ICP-MS 均可提供優(yōu)異的數(shù)據(jù)質(zhì)量。
硬件創(chuàng)新實現(xiàn)的性能
出色的基質(zhì)耐受能力
長期以來，ICP-MS 用于總?cè)芙鈶B(tài)固體 (TDS) 含量低 于 0.2% 的樣品。然而，7900 ICP-MS 憑借穩(wěn)定的等離子體 （CeO/Ce 比值 < 1%）可以非常輕松地耐受這種水平的 基質(zhì)。
標準的超高基質(zhì)進樣系統(tǒng) (UHMI) 功能可幫助您對高達 25% TDS 的樣品進行常規(guī)測量，比 ICP-MS 的傳統(tǒng)高 100 倍，可應(yīng)對多種新應(yīng)用。
痕量物質(zhì)檢測更勝
新型的接口設(shè)計、離子透鏡和優(yōu)化的真空系統(tǒng)提高了離子傳 輸效率，在 CeO < 2% 的條件下，靈敏度大于 109 cps/ppm。 此外，全新的正交檢測器可降低背景、顯著提高信噪比， 從而提供更低的檢測限和更準確的超痕量分析結(jié)果。
新一代 ICPMS 系統(tǒng)進一步拓展的分析范圍
新型正交檢測器系統(tǒng) (ODS) 提供高達 11 個數(shù)量級的動態(tài) 范圍，從亞 ppt 級到百分級濃度。這可以讓您在同一次運 行中同時測量痕量與常量元素，從而簡化方法開發(fā)并基本 消除超出檢測范圍的結(jié)果。
更快的瞬時信號分析
快速瞬時信號的測量（用于諸如毛細管色譜、單納米顆粒 和單細胞分析以及激光剝蝕類的應(yīng)用）需要儀器具有極短 的積分時間。7900 ICP-MS 具有超快速數(shù)據(jù)采集功能，每 秒可完成 10000 次獨立測量。
*設(shè)計造就的實用性
Agilent 7900 ICP-MS 的每個組件經(jīng)過精心設(shè) 計，造就了的性能和可靠性
基于安捷倫長期以來作為 ICP-MS *技術(shù)的，我 們對 7900 ICP-MS 進行了精益求精的重新設(shè)計。精心設(shè)計、 優(yōu)化的每個組件均可滿足繁忙實驗室的需求。
進樣系統(tǒng)
標準的低流量、帕爾帖冷卻進樣系統(tǒng)提高了 運行穩(wěn)定性和一致性。集成進樣系統(tǒng) (ISIS 3)* 增配了活塞泵和緊密連接的 7 通閥，可實現(xiàn) 高速不連續(xù)進樣。
超高基質(zhì)進樣系統(tǒng)
(UHMI) UHMI 將基質(zhì)耐受性提高到 25% 的總?cè)芙鈶B(tài) 固體 (TDS)，還可提高等離子體的穩(wěn)定性， 顯著降低基質(zhì)抑制效應(yīng)。
等離子體與屏蔽炬系統(tǒng) (STS)
精密離子能量控制確保了氦氣模式下的高靈敏度和有效的干擾去除 能力。維護儀器后，炬管將自動與接口對齊。
27 MHz 等離子體 RF 發(fā)生器
高速頻率匹配 RF 發(fā)生器增強了等離子體對各種基質(zhì)的耐受能力， 即使是強揮發(fā)性的有機溶劑進樣也不會影響等離子體的穩(wěn)定性。
接口與錐
標準配置的鎳錐或可選的鉑提高了離子 傳輸效率和基質(zhì)耐受性。螺紋設(shè)計便于在維 護過程中拆卸。
離軸離子透鏡組
在整個質(zhì)量數(shù)范圍內(nèi)提高離子傳輸效率，大大減少質(zhì)量歧視，無需 針對特定質(zhì)量數(shù)進行電壓優(yōu)化。
雙曲面四極桿
僅用于 ICP-MS 的雙曲面四極桿，具有優(yōu)異的峰分離能力和豐度靈 敏度，無需定制四極桿設(shè)置即可實現(xiàn)相鄰峰的分離。
正交檢測器系統(tǒng) (ODS)
ODS 提供了更高的靈敏度、更低的背景和 更寬的測量范圍（從 0.1 cps 至 10 Gcps，高 達 11 個數(shù)量級），消除了超范圍結(jié)果。
第四代八極桿反應(yīng)池系統(tǒng) (ORS4 )
配置新型氣體控制裝置的溫控型碰撞/反應(yīng) 池，可在 3 秒內(nèi)完成池氣體的快速切換。
八極桿離子導桿
八極桿通過氦氣碰撞模式的動能歧視 (KED) 提供了的干擾消除能力，這一特點在 數(shù)千臺已安裝的安捷倫 ICP-MS 設(shè)備中獲得 了充分驗證。
真空系統(tǒng)
高性能的叉分式渦輪泵與外置機械泵優(yōu)化了接口區(qū)的真空，提高 了靈敏度與基質(zhì)耐受性。
緊湊的臺式設(shè)計
作為安捷倫迄今為止最小的 ICP-MS 系統(tǒng)， 能節(jié)省寶貴的臺面空間，同時也能輕松對其 進行維修和維護
