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公司介紹主營產(chǎn)品

歷史Santec以它今天的業(yè)績在光通信行業(yè)中居于先導(dǎo)的地位。過去二十年期間，Santec經(jīng)歷了一系列的戰(zhàn)略調(diào)整，Z終成為光電志行業(yè)的主導(dǎo)者之一。我們開發(fā)的一系列新穎的光學(xué)產(chǎn)品得到了世界范圍客戶的關(guān)注。目前我們是日本一些通信設(shè)備、電器設(shè)備和電纜制造商的供貨者。點(diǎn)擊這里進(jìn)入我們富有生機(jī)的歷史時間表 1979 - 1983 年 Santec的初期-開創(chuàng)階段在起步階段，我們從事精細(xì)陶瓷材料的進(jìn)口和批發(fā)業(yè)務(wù)。而后作為CAD/CAM技術(shù)的供應(yīng)商，Santec進(jìn)入重要的轉(zhuǎn)折，奠定了自己光學(xué)技術(shù)*的地位。初建于1979年的Samcom Electric Inc，坐落于名古屋市。我們的早期業(yè)務(wù)是開發(fā)和進(jìn)口應(yīng)用于玻璃纖維的精細(xì)陶瓷材料、陶瓷纖維、IC包裝等等。在1981年，我們建立了OPELS Corp.作為子公司，開發(fā)和銷售辦公自動軟件。1983年，Samcom該名為Santec Corporation,從事與新的纖維光學(xué)的研發(fā)業(yè)務(wù)。1984 - 1989 年Santec的新地位：光技術(shù)的先鋒在這個階段，Santec以它的成就贏得了工業(yè)界的關(guān)注，它的一些新穎產(chǎn)品很快成為某些相關(guān)研究領(lǐng)域的基本工具。在這個階段的期，也就是1989年，建立了我們的光子實驗室。引人矚目的革新: 世界上*個光纖模場參數(shù)測試系統(tǒng)FTS-2000已銷售與的光纜制造商與KDD研發(fā)實驗室合作開發(fā)了超高分辨率激光光譜帶寬分析儀世界上*臺偏振模式色散特性分析儀微型套管/沖模測量儀（微孔測量儀表）激光二極管控制器頻率穩(wěn)定LD光源窄譜LD光源寬帶波長可調(diào)諧LD光源可調(diào)半導(dǎo)體激光系統(tǒng) 1990 - 1997 年Santec技術(shù)的磨練：光器件業(yè)務(wù)的黎明隨著日本經(jīng)濟(jì)泡沫的破滅，Santec核算了自己的技術(shù)積累，并研討了以整個研究與開發(fā)作為革新的杠桿的新課題。開始以我們*的多層介電干涉濾波技術(shù)為基礎(chǔ)，形成了一條ñ第二批產(chǎn)品î生產(chǎn)線，在新的市場條件下創(chuàng)建了全然不同的業(yè)務(wù)領(lǐng)域。例如生產(chǎn)設(shè)備和構(gòu)造設(shè)備在此期間，在高速Gbps網(wǎng)絡(luò)技術(shù)方面，我們推出了一系列成功的試驗。 Santec提供的測試儀器和光器件現(xiàn)在已被確認(rèn)為加速構(gòu)造和應(yīng)用海底光纜系統(tǒng)的基礎(chǔ)。引人矚目的革新: 光放大器評估系統(tǒng)和超高速脈沖發(fā)生儀 HRS-2200為FA應(yīng)用的成像過程系統(tǒng) 光學(xué)超級系統(tǒng)系列、合成模塊技術(shù)（包括寬帶波長可調(diào)LD光源）非偏振依賴性可調(diào)波長光濾波器袖珍式波長可調(diào)光源可調(diào)光衰減器簡易式波長表 1998 - 年至今 Santec的光器件和WDM技術(shù)飛速發(fā)展SantecZ近建立的質(zhì)量保證體系已經(jīng)落實到三個主要的業(yè)務(wù)單位：光器件, 可調(diào)波長激光器和光測試儀器.九十年代后期互聯(lián)網(wǎng)的爆發(fā)性發(fā)展，加速了*的視線大容量、高速度光通信網(wǎng)絡(luò)、波分復(fù)用器（WDM）技術(shù)的開發(fā)、創(chuàng)造了對光器件相當(dāng)大數(shù)量的需求、幫助我們的光器件從研究階段轉(zhuǎn)向生產(chǎn)經(jīng)得起實際使用考驗的過得硬產(chǎn)品。在此期間，我們還取得了ISO9001證書，成為上承認(rèn)的一支通信技術(shù)隊伍。Santec的產(chǎn)品通過了Lucent Technologies, CIENA, Ericsson 以及其他單位的質(zhì)量審計，并且被世界上許多的企業(yè)采納為傳輸設(shè)備的組成部件。公司的里程碑: Santec美國公司遷至新澤西的Hackensack、Santec歐洲公司在英國牛津開業(yè) 在名古屋小牧市地區(qū)建成Santec光子實驗室（C樓）建立日本、美國和歐洲緊密聯(lián)系的三級研發(fā)體系股票在日本Nasdaq注冊，由大阪證券交易所進(jìn)行交易建成光谷Ohkusa園區(qū)的第二部分（Dl樓和E樓） Santec中國公司在上海成立

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產(chǎn)品簡介在線詢價

快速掃描測試系統(tǒng)(Swept Test System)該系統(tǒng)由可調(diào)諧激光器（TSL系列）、偏振控制器（PCU-110)、光功率計(MPM)以及相應(yīng)的軟件組成。可對IL/WDL/PDL等光學(xué)器件進(jìn)行測試，適用于R&D和產(chǎn)線。多工位快速掃描測試系統(tǒng)通過將Swept Test System與Multi Branch Unit相組合，可進(jìn)一步提高測試效率。Swept Test System introdu......

光學(xué)器件掃描測試系統(tǒng) 產(chǎn)品詳情

概要

Santec快速掃描系統(tǒng)由，，PCU-100偏振控制器組成。Santec專用的軟件使得系統(tǒng)測量IL,WDL和PDL時化，既可用于研發(fā)，也可用于生產(chǎn)環(huán)境。通過實時校正，從可調(diào)諧激光器中同時獲得輸出功率，通過DUT傳輸?shù)焦β视?，系統(tǒng)通過穆勒矩陣法提供高精度的IL,WDL,PDL分析。

特性

實時功率校正
精確 WDL/PDL 特性測量
- 高功率重復(fù)性 <±0.02>
- 高PDL 重復(fù)性 ±0.01 dB
縮放算法
- 高波長分辨率及精度
- 減少測量時間
可多通道測量
支持用戶圖形界面及DLLs (Visual Studio)
- 簡易測量參數(shù)建立
- 數(shù)據(jù)分析

WDL（波長相關(guān)損耗）測量

可進(jìn)行80 dB高動態(tài)范圍測量或更多

Santec可調(diào)諧激光器創(chuàng)新的腔體設(shè)計，可降低光ASE噪音，高信噪比超過90 dB / 0.1 nm以上，并且同時保持高輸出功率 + 10 dBm以上。TSL系列可針對高密度波分復(fù)用（DWDM）和波長選擇開關(guān)（WSS）等下一代光器件測試。以下圖表是CWDM濾波器和陷波濾波器（如FBG）的測量數(shù)據(jù)。

高波長精度+/- 3 pm

Santec可調(diào)諧激光器配備有標(biāo)準(zhǔn)的波長監(jiān)測器，是的光無源器件高精度測試儀器。下圖是 Acetylene (12C2H2) 波長測量數(shù)據(jù)，從中可以看出高測量精度。

高波長分辨率少于 0.1 pm

Santec高速掃描測試系統(tǒng)不僅可以進(jìn)行光器件WDL測量，還可以測試高密度波分復(fù)用（DWDM），AWG,波長選擇開關(guān)（WSS）或更多，而且在連續(xù)掃描時，有效保持超窄濾波器 (Ultra-high Q 腔體裝置) 高分辨率。

應(yīng)用

器件及模塊的光學(xué)特性：
- 可調(diào)諧濾波器, 交織器, 光纖光柵, 耦合器, 分離器, 隔離器, 開關(guān)等
- WSS和波長阻隔器
- DWDM器件
硅光子材料特性 , 包括微腔環(huán)形諧振器
光譜學(xué)
干涉測量

配置

1. 偏振相關(guān)損耗測量

可調(diào)諧激光器 TSL-770 / TSL-570
偏振控制器 PCU-110
光功率計 MPM-210H

2. 波長相關(guān)損耗測量　(MPM-210H)

可調(diào)諧激光器 TSL-770 / TSL-570
光功率計 MPM-210H

多工位測試解決方案

In the multi-station measurement configuration, the TSL, PCU and MBU will act as a server that splits the trigger signal and light beam to different stations. Each station will consist of a client PC and a power meter. During operation, the TSL will sweep continuously allowing each station to work independently and simultaneously with other stations. In this way, the Multi-station measurement configuration can improve the efficiency of measurements for high-accuracy characterization and analysis. Multi-station PDL System

可調(diào)諧激光器 TSL-570
偏振控制器PCU-110
分光器MBU-100
光功率計MPM-210H

下載

- 產(chǎn)品手冊 -

- 操作手冊 -

如果您需要操作手冊，請從這里。

- 控制軟件 -

如果您需要GUI軟件及驅(qū)動，請從這里。

技術(shù)支持/下載

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快速掃描測試系統(tǒng)(Swept Test System)

該系統(tǒng)由可調(diào)諧激光器（TSL系列）、偏振控制器（PCU-110)、光功率計(MPM)以及相應(yīng)的軟件組成?？蓪L/WDL/PDL等光學(xué)器件進(jìn)行測試，適用于R&D和產(chǎn)線。

多工位快速掃描測試系統(tǒng)

通過將Swept Test System與Multi Branch Unit相組合，可進(jìn)一步提高測試效率。

關(guān)鍵詞：功率計標(biāo)準(zhǔn) 隔離器

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