美國泰克371A TEK371A晶體管測試儀
主要參數(shù):·半導體器件高精度測量
-上限達2000V或電流到10A的源(370A)
-上限到3000V(371A)
-上限到220W(370A)
-上限到400A(371A)
-1nA的測量分辨率
-上限到3000W(371A)
·上限到2mV的測量分辨率(370A)
·波形對比
·包絡(luò)顯示
·波形平均
·點光標(370A)
·Kelvin傳感測量
·全程控
·MS-DOS兼容的軟盤,方便設(shè)置參孝存儲和調(diào)用
應(yīng)用
手動或自動進行半導體高分辨率DC參數(shù)測量
來料檢查
生產(chǎn)測試
過程監(jiān)視及質(zhì)量控制
數(shù)據(jù)報告的生成
元件配對
失效分析
工程測試
交互式程
所有交互式程控測量是通過有鮮明特點的前面板或GPIB來完成的。使用幾種存儲方式,調(diào)整和存儲操作
參數(shù),包括370A的非
易失存儲器、內(nèi)置的MS-DOS兼容的軟盤或到外部控制器。
測試夾具
測試夾具是標準附件,它提供被測器件安全防護,以保護測量人員的安全。測試夾具適應(yīng)標準的A1001
,中間通過Kelvin傳
感的A1005適配器、無Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。
370A程控特性曲線圖示儀
370A是全/球/著/名的高分辨率特性曲線圖示儀,可應(yīng)用到許多場合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管
、可控硅、場效應(yīng)管
、光電元件、太陽能電池、固態(tài)顯示和其它半導體器件的直流參數(shù)特性的測試。
在研發(fā)實驗室,用370A來完成新器件、SPIEC參數(shù)的提取、失敗分析和產(chǎn)生數(shù)據(jù)報告這些具體的測試工作
在制造過程中,用370A檢驗器件質(zhì)量及過程監(jiān)視。
370A可進行來料檢查、器件性能測試、失效分析和器件配對這些測試工作。
技術(shù)指標 集電極電源 模式 AC,±DC,±泄露,±整流的正弦波 范圍 zui大峰值電流(±) 峰值電流
(脈沖式)(±) 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 階梯信號發(fā)生器 模式
階梯:DC,80μS脈沖,300μS脈沖 階梯量程- 電流: 50nA到200mA,按1-2-5順序 電壓: 50mV到2V,
按1-2-5順序 偏置 zui大到±10X階梯幅度 階梯數(shù) 0到10 測量特性 集電極電流- 測試量程:
100nA/div(1nA分辨率)至2A/div誤差,1.5%光標讀出+0.05div設(shè)定值(點光標) 發(fā)射極電流- 測試量
程: 1nA/div(10pA分辨率)至2mA/div 誤差 1.5%光標讀出+0.05div設(shè)定值+1nA 安全標準 UL1244,
CSA231,HD401S1