HAST高壓加速老化試驗箱
廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗。隨著半導體可靠性的提高,目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效,因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間,采用了的壓力蒸煮鍋試驗方法
HAST高壓加速老化試驗箱試驗目的是為了提高環(huán)境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等),加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間,廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗.
型 號
RK-HAST-30
RK-HAST-40
可按要求非標定做
內(nèi)部尺寸W×H×D(mm)
Φ300×D500
Φ400×D550
溫度控制
升溫時間:常溫 →+ 132℃55 min 溫度范圍:100℃→+132℃. (控制點)
溫度波動度:±0.5℃. 溫度偏差:±2.0℃.
濕度范圍
75%~100 %R.H . (控制點) 濕度波動度:±2.5 %R.H.
壓力范圍
0.5~2㎏/㎝2 (控制點)
升壓時間
常壓 →+ 2㎏/㎝2 60 min.
濕度均勻度
±5.0%.
控制器
進口觸摸屏微電腦彩色液晶顯示觸控式瑩幕直接按鍵型,中英文表示之廣視角,高對比功能可程式控制器,具30組程序記憶,每段540Hour59Min,可任意分割設定,并附多組PID控制功能.
保護裝置
可調(diào)式超溫保護 壓力超壓保護 壓力超限第二重保護 溫度超限報警保護 缺水保護
樣品架
有承重5kg/層,10kg/層,20kg/層(箱內(nèi)樣品架累計總承載不超過50kg)