CISC NFC Xplorer Inline是生產(chǎn)過程中對 NFC Inlay和標(biāo)簽進(jìn)行高速*測試的設(shè)備。它在生產(chǎn)過程中從頭到尾為產(chǎn)品提供質(zhì)量保證,包括性能測試和編碼。NFC Xplorer Inline可使用自帶GUI,也可通過串行接口、觸發(fā)口和 API *集成到裝配設(shè)備中。
- 在創(chuàng)建自己的性能矩陣時更具靈活性
- 更好的分析,同時節(jié)省時間和成本
- 高速測試13.56 MHz 的性能(> 100k UPH)
- 提高產(chǎn)品的整體質(zhì)量管理水平
- 生產(chǎn)中全面*
- 支持各種 NFC 標(biāo)簽類型
- 支持安全性、加密(SAM,TAM)
- 變化的H-field場強(qiáng)
- 提供了一個完整的解決方案包括支持Class 1-6標(biāo)簽
- 用于編碼和個性化的讀/寫模式
- 測試標(biāo)簽操作場強(qiáng)范圍
- 用于外部出發(fā)的GPIO
- 用于通信的串行接口
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支持標(biāo)準(zhǔn):
- ISO/IEC 14443A and B
- ISO/IEC 15693