單一內(nèi)置信號(hào)源
進(jìn)行信號(hào)完整性和材料測(cè)量的經(jīng)濟(jì)選擇
對(duì)無(wú)源元器件和簡(jiǎn)單的有源器件執(zhí)行基本分析
在高達(dá) 50 GHz 的頻率范圍內(nèi)準(zhǔn)確測(cè)量 S 參數(shù)
評(píng)測(cè)混合模式 S 參數(shù)測(cè)量,擺脫平衡-不平衡轉(zhuǎn)換器的限制
多點(diǎn)觸控屏和直觀的用戶界面幫助您加速洞察元器件特性
通過簡(jiǎn)單的探測(cè)臺(tái)整合,打造完整的在片測(cè)量系統(tǒng)
具有出色的性價(jià)比,適用于微波器件制造測(cè)試