SIRIUS Compact Scan 2M
經(jīng)典型三維光學掃描儀
作為一款輕便、高度移動性的3D 光學掃描儀,SIRIUS Compact Scan 系列同樣采用新的藍光技術(shù), 結(jié)合ScanTEK Softeware 專業(yè)測量軟件, 為您提供一套完整的, 性價比更好的掃描系統(tǒng)。
產(chǎn)品特點:
智能三維光學動態(tài)測量技術(shù),自動拼接,輕松獲取工件表面高精度、高密度的三維點云數(shù)據(jù);
面輪廓掃描方式,高分辨率的體現(xiàn)工件細節(jié);
通過安裝不同的鏡頭組,可以覆蓋數(shù)毫米至數(shù)米范圍內(nèi)的工件掃描,不僅掃描速度快,還可以兼顧邊界、特征的掃描;
掃描頭通過特殊防護設(shè)計,可以實現(xiàn)生產(chǎn)車間的現(xiàn)場測量;
千兆網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)接口設(shè)計,保障了數(shù)據(jù)傳輸?shù)耐瑫r,不失真。
技術(shù)規(guī)格:
SIRIUS Compact Scan 2M | |
測量點 | 2x2,000,000 |
測量點距 | 0.03-0.15mm |
工作距離 | 200-330mm |
掃描時間:秒 | 3秒 |
電纜長度 | 3-10m |
PC | 臺式64位工作站,配置WIN7 |
可用軟件 | ScanTEK Software |
掃描測頭支撐 | 三角架或立柱式支架 |
工作溫度 | 5-40℃ |