7-CRD  CCD光電性能測(cè)量系統(tǒng) 

    CCD光電性能測(cè)量系統(tǒng)又稱(chēng)CCD成像電子學(xué)系統(tǒng)光電聯(lián)試定量測(cè)試設(shè)備。

    本系統(tǒng)能夠解決空間光學(xué)遙感器研制中光電成像器件選型、采取抗輻射加固設(shè)計(jì)及輻射校正設(shè)計(jì)及為光電成像器件受輻照后性能變化的機(jī)理研究提供檢測(cè)手段等諸多科學(xué)問(wèn)題；同時(shí)能夠在業(yè)界對(duì)光電成像器件抗輻射性能評(píng)價(jià)的標(biāo)準(zhǔn)化和規(guī)范化起到積極推進(jìn)作用。

技術(shù)參數(shù)：

1、工作波段：380nm~1000nm（其他波長(zhǎng)范圍可選）；

2、動(dòng)態(tài)范圍：≥80dB;

3、光譜分辨率：≤0.5nm；

4、峰值波長(zhǎng)（測(cè)量精度）：優(yōu)于±1nm；

5、中心波長(zhǎng)（測(cè)量精度）：優(yōu)于±1.2nm;

6、光譜帶寬：（測(cè)量精度）：優(yōu)于2nm；

7、相對(duì)光譜響應(yīng)度（測(cè)量精度）：優(yōu)于2%；

8、有效測(cè)量區(qū)域：≤φ120mm；

9、暗噪聲：優(yōu)于±0.5mv；

10、信噪比（測(cè)量精度）：優(yōu)于±5dB；

11、飽和輸出電壓（測(cè)量精度）：優(yōu)于±20mV；

12、響應(yīng)非均勻性（測(cè)量精度）：優(yōu)于1%；

13、響應(yīng)非線(xiàn)性（測(cè)量重復(fù)性）：優(yōu)于2%；

14、噪聲等效曝光量（測(cè)量精度）：優(yōu)于2%；

15、光輻射響應(yīng)度（測(cè)量精度）：優(yōu)于2%。