可程式濕熱交變試驗箱高低溫檢測試驗箱
一、設(shè)備介紹
恒溫試驗箱是為了適應(yīng)現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)需要而開發(fā)的一種應(yīng)力篩選設(shè)備和試驗設(shè)備,同時也運(yùn)用在中試過程中。其工作原理是根據(jù)熱血原理和制冷原理結(jié)合而成的,通過加熱器來進(jìn)行加熱同時通過制冷設(shè)備來進(jìn)行降溫,從而達(dá)到某一恒定溫度。當(dāng)產(chǎn)品在這樣一個環(huán)境下,觀察其性能、外觀的變化,為企業(yè)提供更科學(xué)可靠的產(chǎn)品。
二、設(shè)備用途
該設(shè)備主要針對電工、電子產(chǎn)品、以及其元器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗。
該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗用。
三、依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)
GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
GB 2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB 2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB 2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則
四、技術(shù)參數(shù)
溫度偏差:+2%、-3%RH
升溫時間:室溫~100℃約20min
控制溫度:±1℃±2%
五、參考圖
可程式濕熱交變試驗箱高低溫檢測試驗箱