半导体显微膜厚测量仪2-仪表网

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由具有10年以上工作经验的海归和海外专家团队组建。公司创始团队在硅谷长期从事薄膜检测技术相关软件和技术的研究，应用。在相关光学宽光谱设备的设计，制造和应用方面有着丰富的经验，。从事面向智能手机，半导体，玻璃镀膜，LCD平板显示，LED/OLED，太阳能，汽车等行业在线离线薄膜检测高科技技术和装备的研发，设计，制造，技术服务和销售。为相关行业的镀膜工艺提供薄膜检测设备，软件，服务和成套解决方案。

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面向单银

半导体显微膜厚测量仪2 产品详情

面向单银，双银，三银及以上的Low E/浮法线透过率，颜色，膜厚在线测量系统
测量生产线腔体内的透射率和颜色以监控每一步镀膜工艺
检测成品的膜面反射率/颜色值，透射率颜色值，玻面多角度反射率/颜色值以对双银及以上的镀膜工艺进行精确控制，非接触式检测膜面表面电阻率
优化拟合软件可以用来计算膜厚并进行膜系设计
配套软件特性：
光谱数据和面电阻测量;膜系开发和仿真;根据光谱数据拟合每层膜厚度;测算每层材料折射率等
菜单管理
离线监控和历史数据界面
输出至SQL服务器；小型内置式SQL
可根据客户要求定制界面

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产品介绍
Product Information

关键词：服务器

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