电镀测厚检测仪-X射线荧光光谱分析仪
系统介绍
通过对X射线荧光光谱分析仪的自动化控制，提供了一个全面的自动化检测平台，利用人工智能技术实现对样品的24小时不间断检测及分析。
产品特点
完整日志： 实验过程全程记录，可追溯；
错误机制： 涵盖通讯、逻辑等各方面错误，确保实验可控；
工作模式： 抢先式运行无需等待,按照顺序工作，确保高效作业；
旋转平台： 无需搬动XRF仪器即可自由转至人工工作状态；
高效产能： 每12小时可高达720只；
定制杯体： 可定制不同尺寸的样品杯，有效解决大小样品的检测居中问题；
兼容数量： 兼容两台或四台XRF本体，其他数量可做定制。
| 型 号 | PHS200EDX | PHS400EDX |
| XRF设备 | 2台 | 4台 |
| 一次性进样量 | 270个样品 | 540个样品 |
| 12小时测量样品数 | 180-360个 | 360-720个 |
| 机械臂品牌 | 可搭配国产品牌/进口品牌 | |
| 国产机械臂参数 | 机械臂重复定位精度±0.05mm | |
| 进口机械臂参数 | 机械臂重复定位精度±0.03mm | |
| 设备尺寸（长×宽×高） | 2700mm×1240mm×1850mm | 2700mm×2000mm×1850mm |
| 主电源 | 220V AC，50Hz | |
| 气 源 | 主气源供气气压控制在0.35MPa-1MPa之间 | |
| 电 脑 | WIN7 64位操作系统以上， 4G内存条以上 | |
| 配 件 | 样品专用盘、样品杯 | |
电镀测厚检测仪-X射线荧光光谱分析仪
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。产品说明、技术参数及配置
仪器介绍标准配置
开放式样品腔。
二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
Thick800A是集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
金属电镀测厚仪现货供应性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加准确
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
多功能金属电镀测厚检测仪现货供应技术指标
型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
