特點：
結(jié)合用途配備豐富的功能
以DUT特性的設(shè)定，支持高重現(xiàn)性且準確的測量
準確的評價基于實際使用的操作條件
電子零件、電子材料可能因測量頻率及施加的信號級別而表現(xiàn)出不同的特性。電容器和電感器存在因寄生成分引發(fā)的頻率依賴性，二極管等半導體器件由于 DC 偏置疊加而產(chǎn)生特性變化。
要評價真實的特性，重要的是頻率、AC 振幅和 DC 偏置的掃頻，在實際的操作條件下進行測量。
● 掃頻
● 延遲功能
● 標記操作
● 測量條件等的設(shè)定
● 自動高密度掃頻
● 順序測量
● 量程
● 誤差校正
● 圖表顯示
豐富的功能
● 共振點跟蹤測量
● 相對介電常數(shù)測量
● 外部基準時鐘
● 等效電路估算
● 相對導磁率測量
● 存儲器操作
● 壓電常數(shù)計算
● 比較器 / 處理器接口
掃頻 頻率、AC 振幅、DC 偏置、零頻寬
不變更頻率、AC 振幅和 DC 偏置的參數(shù)，按恒定的條件進行測量，觀察不同時間的特性變化（橫軸：時間）
“True Value”
測量真正的特性。
▲ ZA57630
從電子零件、半導體器件到材料的特性評價，應(yīng)對多樣的阻抗測量需求
±0.08%
10 µHz～36 MHz
10 µΩ～100 GΩ (模式: IMPD-EXT)
0.01 mVrms～3 Vrms
0.1 µArms～60 mArms
?5 V ～ +5 V/?40 V ～ +40 V (1 kHz以上)
100 mA ～ +100 mA
0.5 ms/point
Z, R, X, Y, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, θz, θy, D, Dε, Dµ,
Q, V, I, εs, εs’, εs”,µs, µs’, µs”, FREQUENCY
快速測量
實現(xiàn)了業(yè)界的0.5ms/point。
縮短生產(chǎn)線的節(jié)拍時間，提高測量作業(yè)的效率。
此外，通過增加設(shè)定的測量時間，使測量結(jié)果平均化，減輕噪聲的影響?？梢曅枰x擇最合適的測量時間。
4種測量模式 應(yīng)對廣泛的DUT
標準測量模式
本模式可以在廣泛的頻率范圍內(nèi)進行高精度測量。可使用測試線及測試夾具，應(yīng)對各種形狀的試樣。
高頻測量模式
本模式可以在 10MHz 以上的高頻下進行穩(wěn)定的測量。使用 N 型連接器進行 2 端子測量，即便配線長，也可以進行穩(wěn)定的測量。
外部擴展測量模式
本模式為外部連接放大器或分流電阻等物進行測量。
可以通過施加高壓信號或檢測微小電壓 / 電流進行單獨使用本儀器無法應(yīng)對的測量。
增益/相位測量模式
本模式可以測量濾波器、放大器等的傳輸特性。向被測電路施加掃描信號，高精度地測量其頻率響應(yīng)（增益、相位）。
正面面板測量端子
