LX-609蘋果數(shù)據(jù)線綜合測(cè)試儀

產(chǎn)品說明

產(chǎn)品名稱：LX-609蘋果數(shù)據(jù)線綜合測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào)：LX-609

【簡(jiǎn)介】

手機(jī)已成為的電子產(chǎn)品，各種外圍產(chǎn)品也幸運(yùn)而生，本公司立志為廣大外設(shè)廠家服務(wù)，適時(shí)推出相應(yīng)的檢測(cè)設(shè)備，為您提高生產(chǎn)效率，為您的品質(zhì)保駕護(hù)航。本產(chǎn)品為一款多功能的手機(jī)充電器檢測(cè)儀器，適用于研發(fā)和批量生產(chǎn)環(huán)節(jié)。

【功能特點(diǎn)】

※ 采用32位ARM高速處理器設(shè)計(jì)。

※ 支持iPhone6,iPhone5,iPad4,iPad mini,iPod nano6數(shù)據(jù)線、充電線。

※ 支持iOS6,iOS7,iOS8操作系統(tǒng),支持MFI認(rèn)證原裝數(shù)據(jù)線和山寨高仿數(shù)據(jù)線、C10B、C48方案等。

※ 雙面測(cè)試，插一次即可全部測(cè)完，提高效率。

※ 負(fù)載電流可以設(shè)定0-3A，可以設(shè)為2.4A實(shí)測(cè)iPad數(shù)據(jù)線，充分保證線材指標(biāo)。

※ 準(zhǔn)確測(cè)出D+、D-電阻，可以檢測(cè)出D+、D-內(nèi)置的匹配電阻大小并作出判斷。

※ 可測(cè)出D+、D-漏電阻，并根據(jù)設(shè)定范圍判定結(jié)果，漏電阻過小會(huì)影響數(shù)據(jù)通信和充電速度。

※ 由于USB座使用率很高，容易損壞，所以USB座采用分體設(shè)計(jì)，方便更換。

※ 可測(cè)試出具體故障點(diǎn)，以便技術(shù)人員對(duì)線進(jìn)行檢修。

※ 各種保護(hù)措施避免儀器使用過程中受到損壞，防靜電保護(hù)，防短路保護(hù)，直接短路USB電源也不會(huì)損壞。

※ 插入被測(cè)產(chǎn)品自動(dòng)開始測(cè)試。

※ LCD中文顯示屏。

※ 同時(shí)有聲音和LED指示測(cè)試結(jié)果。

※ 設(shè)置的測(cè)試參可掉電保存。

※ 可以連接電腦，有PC軟件，實(shí)現(xiàn)更多功能，也可單獨(dú)使用。

※ 通過PC軟件對(duì)蘋果協(xié)議數(shù)據(jù)抓取。

※ 可以在線升級(jí)，使儀器隨時(shí)擁的功能，如果儀器有問題，可使用在線升級(jí)經(jīng)松解決，不必返廠。

【檢測(cè)項(xiàng)目】

注意：

1、 本儀器只對(duì)上面所列項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試，用戶在使用過程中可能因參數(shù)設(shè)置不同而產(chǎn)生不一樣的結(jié)果，比如設(shè)置重負(fù)載電壓大于4.5V合格，如果重負(fù)載電壓為4.4V將判為不合格，但該充電器在真機(jī)上可能正常使用。

2、 由于線材分布參數(shù)、阻抗等因素影響，造成數(shù)據(jù)線在真機(jī)使用時(shí)通信速率變慢，或*不能通信，本儀器并沒有模擬真機(jī)數(shù)據(jù)通信進(jìn)行測(cè)試（估計(jì)也沒有儀器能做到這一點(diǎn)），所以不能檢出這種問題。

3、 本儀器只對(duì)充電器/數(shù)據(jù)線內(nèi)置芯片做部分協(xié)議的驗(yàn)證，這是因?yàn)樯秸酒桨副姸啵糠N方案協(xié)議、序列號(hào)不盡相同，無法對(duì)其進(jìn)行*驗(yàn)證，所以本儀器不適合做研發(fā)使用，只適合工廠檢出芯片在焊接過程中造成的開路、短路等物理性的問題，芯片內(nèi)的程序一般在芯片出廠時(shí)已校驗(yàn)。

4、 測(cè)試通過的充電器/數(shù)據(jù)線在使用過程中還可能因?yàn)槭褂铆h(huán)境條件惡劣而不能正常使用，比如有的芯片在低溫下無法工作。

綜上所述，本儀器不可*替代真機(jī)測(cè)試，為了提高測(cè)試效率，我們認(rèn)為同一批材料的充電器/數(shù)據(jù)線特性是一致的，建議采用本儀器做基礎(chǔ)測(cè)試，再用真機(jī)抽檢。