Thermo Scientific™ Nexsa™ X 射線光電子能譜儀 (XPS) 系統(tǒng)在提供全自動、高通量的多技術(shù)分析的同時，保持研究級的高質(zhì)量分析檢測結(jié)果。集成ISS、UPS、REELS、拉曼等多種分析技術(shù)于一身，用戶因此能夠進行真正意義上的聯(lián)合多技術(shù)分析，從而為微電子、超薄薄膜、納米技術(shù)開發(fā)以及許多其他應(yīng)用進一步取得進展釋放潛能。
描述
材料分析和開發(fā)
Nexsa 能譜儀具有分析靈活性，可限度地發(fā)現(xiàn)材料潛能。在使結(jié)果保持研究級質(zhì)量水平的同時，以可選多技術(shù)聯(lián)合的形式提供靈活性，從而實現(xiàn)真正意義上多技術(shù)聯(lián)合的分析檢測和高通量。
標(biāo)準化功能催生強大性能：
· 絕緣體分析
· 高性能XPS性能
· 深度剖析
· 多技術(shù)聯(lián)合
· 雙模式離子源，使深度剖析功能得到擴展
· 用于 ARXPS 測量的傾斜模塊
· 用于儀器控制、數(shù)據(jù)處理和報告生產(chǎn)的 Avantage 軟件
· 小束斑分析
可選的升級：可將多種分析技術(shù)集成到您的檢測分析中。式自動運行
· ISS：離子散射譜，分析材料最表面1-2原子層元素信息，通過質(zhì)量分辨可分析一些同位素豐度信息。
· UPS：紫外光電子能譜用于分析金屬/半導(dǎo)體材料的價帶能級結(jié)構(gòu)信息以及材料表面功函數(shù)信息
· 拉曼：拉曼光譜技術(shù)用于提供分子結(jié)構(gòu)層面的指紋信息
· REELS：反射電子能量損失譜可用于H元素含量的檢測以及材料能級結(jié)構(gòu)和帶隙信息
SnapMap
借助 SnapMap 的光學(xué)視圖，聚焦于樣品特征。光學(xué)視圖可以幫助您快速定位感興趣區(qū)域，同時生成*聚焦的 XPS 圖像，以進一步設(shè)置您的實驗。
1.X 射線照射樣品上的一個小區(qū)域。
2.收集來自這一小區(qū)域的光電子并將其收集于分析儀
3.隨著樣品臺的移動，不斷收集元素圖譜
4.在整個數(shù)據(jù)采集過程中監(jiān)測樣品臺位置，這些位置的圖譜成像用來生成 SnapMap
應(yīng)用領(lǐng)域
· 電池
· 生物醫(yī)藥
· 催化劑
· 陶瓷
· 玻璃涂層
· 石墨烯
· 金屬和氧化物
· 納米材料
· OLED
· 聚合物
· 半導(dǎo)體
· 太陽能電池
· 薄膜
