世界*集成的拉曼成像與掃描電子顯微鏡
RISE顯微鏡是一款新型聯(lián)用顯微鏡,它將SEM和共聚焦拉曼成像結(jié)合在一起。通過RISE顯微鏡,可以將超微結(jié)構(gòu)表面特性與分子化合物信息關(guān)聯(lián)起來。
RISE顯微鏡將SEM和alpha300共聚焦拉曼成像顯微鏡的所有功能都融于一臺儀器中:
· 在拉曼和 SEM 測量之間快速、簡便切換
· 自動將樣品從一個測量位置移動另一個位置
· 集成化軟件界面,方便用戶進(jìn)行測量控制
· 測量結(jié)果關(guān)聯(lián)與圖像疊加
· 獨立的SEM 和拉曼成像性能
與ZEISS電鏡聯(lián)用的 RISE顯微鏡 與TESCAN電鏡聯(lián)用的 RISE顯微鏡
RISE 顯微技術(shù):
利用RISE顯微鏡,在整個測量程序中,可以將樣品在 SEM 真空室內(nèi)從一個測量位置自動轉(zhuǎn)移到另一個位置,從而簡化了工作流程,大大提高了儀器的易用性。
應(yīng)用實例:
倉鼠腦組織切片的拉曼-SEM疊加圖像。彩色編 砷化鎵 (GaAs) 樣品的拉曼-SEM疊加圖像。 PMMA-PS 共混聚合物的拉曼-SEM疊加圖像。
碼的拉曼圖像:綠色:腦白質(zhì);紅色:腦灰質(zhì); 彩色編碼的拉曼圖像:黃色:金基底;紅色: 彩色編碼的拉曼圖像:綠色:聚苯乙烯;紅色:
掃描范圍:100 x 100 µm,300 x 300 像素 = GaAs;藍(lán)色:生產(chǎn)殘留物;掃描范圍:50 x 聚甲基丙烯酸甲酯。
90,000光譜,每光譜測量時間50 ms。 50μm,300 x 300 像素 = 90,000光譜,每
光譜測量時間34 ms。
RISE 顯微鏡與地質(zhì)樣品的 EDX 同區(qū)域?qū)?yīng)分析。左:疊加的 SEM-EDX 圖像:可以區(qū)分三種不同元素組(橙色:Si、O;紫色:Si、Al、Fe、Ca;綠色:Na)。中間:同一樣品區(qū)的拉曼-SEM疊加圖像,呈現(xiàn)分子化合物的空間分布。右:相應(yīng)的拉曼光譜。紅色:綠簾石;綠色:石英;棕色:斜長石(鈉長石);額外其他分子化合物。
產(chǎn)品特點
● 在拉曼光譜和掃描電鏡之間快速方便的轉(zhuǎn)換
● 拉曼光譜成像:每個樣品點都能獲取完整的拉曼光譜
● 2D和3D成像模式:平面(x-y方向)和深度掃描(z方向)
● 的衍射極限橫向分辨率:200-300nm
● SEM 和拉曼成像互不影響共聚焦拉曼成像
● 更高的共焦拉曼成像速度、靈敏度和分辨率
● 優(yōu)異的深度分辨率適合三維圖像生成和深度分析
● 靈敏度和分辨率的光譜系統(tǒng)
● 超快拉曼成像選項,每張光譜0.76毫秒的采集時間
● 非破壞性成像技術(shù),無需對樣品進(jìn)行染色
RISE顯微鏡適合……
作為拉曼新手,您將受益于操作簡易性和直觀的測量過程
作為一名經(jīng)驗豐富的使用者,在一臺設(shè)備上實現(xiàn)原位的電鏡-拉曼聯(lián)用圖像,獲得更多的樣品信息
適用領(lǐng)域:材料科學(xué)、納米技術(shù)、高分子科學(xué)、地球科學(xué)、生命科學(xué)、制藥業(yè)……
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