SM303 TE薄背式 CCD 光譜儀
特點(diǎn)：
? 科研級高性能
? 極低的暗噪聲和雜散光
? 寬的動態(tài)范圍和高的信噪比
? 高紫外量子效率
? 靈活的光纖輸入直接到狹縫或通過光纖
? 廣泛的應(yīng)用設(shè)計
? 高速數(shù)據(jù)采集
? 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計允許最多200-1050nm范圍
產(chǎn)品描述:
光譜產(chǎn)品將提供新的SM303 TE致冷薄型背照式1024像素的CCD陣列光譜儀。
SM303是理想的UV / VIS/ NIR光譜法，需要非常高的信噪比和/或高動態(tài)范圍，像熒光，拉馬，LED特性測試的應(yīng)用程序。薄型背照式CCD具有在紫外線的靈敏度并允許深UV應(yīng)用。精心設(shè)計的外殼使從200納米到1050nm（較小的測量窗口尺寸增加光譜分辨率和光敏感）具有非常低的雜散光850nm的測量窗口。TE制冷detecor也有助于通過減少在長積分時間的噪聲電平來測量非常低的光信號。
高動態(tài)范圍和低噪音的SM303也是理想的輻射測量應(yīng)用選擇。
標(biāo)準(zhǔn)接口SM303-Si是16位在USB 1.1/2.0兼容接口。軟件支持包括SDK和DLL的專用應(yīng)用程序的開發(fā)，我們的SM32Pro基于Windows的光譜采集和分析軟件。
軟件:
? SM32Pro - 視窗95，2000，XP，7的軟件（支持32位和64位）進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和分析透射率，反射率，和吸光度測量
? 數(shù)據(jù)導(dǎo)出，放大和縮小，頻譜覆蓋，還有更多的功能
? 包括彩色分析工具
? 信號平均和積分時間控制
? 可在DOS和Windows用戶方便的軟件開發(fā)DLL庫
? 用VC+ + / VB/ Labview的例子
產(chǎn)品特性：
Feature | Value |
Detectors | Hamamatsu S7031-1006 back-thinned CCD · Number of Pixels: 1024 X 58 · Sensing Pixel Size: 24um x 24um · Pixel well depth: 300Ke- (Vertical) 600 Ke- (Horizontal) · Quantum efficiency: >90% @650nm, 65% @250nm · Sensitivity: ~0.065 counts/e- · Cooling: One-stage TE-Cooled (-10℃) |
Spectrograph f# | 3.3 |
Dark Noise RMS | <2 RMS counts in 16bit @35msec integration time |
Signal to Noise Ratio | >1000: 1 |
Fiber Coupler | SMA905 or FC standard |
Effective Spectral Range | 200 to 1050nm |
Order Sorting Filter | Longpass filter or linear variable filter installed per wavelength coverage |
Spectral Resolution | 0.15 to 10nm depending on the slit and grating choices |
Stray Light | <0.01% at 632nm (<0.05% Ave) |
Computer interface | USB 1.1/2.0 16 bit (0-65535), support up to 8 multi-channel configuration |
Minimum integration time | 7msec |
Trigger Mode | Free Run Mode |
Dimensions (inches) | 9.13 H X 5.12 W X 3.56 D |
Weight | 7 lbs. |
Software | SM32Pro (free with spectrometer) |
