可自動測量超薄鍍層厚度和進行痕量分析
FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-SDD®是一款應用廣泛的能量色散型X射線光譜儀。
它特別適用于無損分析超薄鍍層,痕量分析,并可完成自動測量。
為了使每次測量都能在的條件下進行,XDV-SDD配備了可調節(jié)選擇的準直器及基本濾片。
現代化的硅漂移接收器能夠達到很高的分析精度及探測靈敏度。
由于有了大尺寸的準直器以及超高速脈沖處理器,儀器能處理非常高的計數率。
XDV-SDD型X射線光譜儀有著出色的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經常校準儀器了。
由于使用了基本參數法,無論是固體的鍍層系統(tǒng)還是液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量。
最多可同時測量從鋁(13)到鈾(92)的24種元素。
FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-SDD®光譜儀裝備了高精度,可編程的X/Y平臺和電力驅動的Z軸升降臺,因而十分適用于自動測量分析超薄鍍層或是痕量分析。