| Krautkramer CL5高精度測(cè)厚儀 高精密超聲波測(cè)厚儀 CL5 體積小巧，功能豐富 CL 5精密測(cè)厚儀具有功能**、使用簡(jiǎn)便、體積小巧和結(jié)構(gòu)牢固的優(yōu)點(diǎn)。位于顯示屏正下方的3個(gè)軟鍵啟動(dòng)所顯示菜單上的各種功能。利用四個(gè)方向鍵可以簡(jiǎn)單而高效地切換菜單和瀏覽文本輸入畫面。圖形顯示為用戶提供了6種不同的操作模式。用戶可以在常規(guī)、*小值掃描、*大值掃描、差值/減薄率、厚度+A掃描(選件)或聲速測(cè)試(選件)中進(jìn)行選擇。CL 5采用可編程數(shù)據(jù)記錄器，可以方便在電腦上設(shè)置數(shù)據(jù)文件。SD卡存儲(chǔ)系統(tǒng)將所有數(shù)據(jù)記錄和設(shè)置信息存儲(chǔ)在可拆卸SD存儲(chǔ)卡上。將測(cè)厚儀直接插入電腦后，文件的格式允許進(jìn)行拖放操作。其它數(shù)據(jù)，比如數(shù)碼照片，也可以存儲(chǔ)在同一張SD卡上。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
這一體積小巧、功能多樣的儀器還具有以下這些優(yōu)點(diǎn)： - 高測(cè)量性能提供具有高度穩(wěn)定性和可重復(fù)性的厚度值 - 六種測(cè)量和顯示模式：常規(guī)、*小厚度捕獲、*大厚度捕獲、差值和減薄率、聲速測(cè)試(要求配有CL 5V選項(xiàng))和厚度+A掃描(要求配有實(shí)時(shí)A掃描選項(xiàng)) - 所有型號(hào)都具有A掃描快照功能 - 空心/實(shí)心厚度值指示耦合或非耦合狀態(tài) - 可視LED報(bào)警提醒用戶測(cè)量超出了用戶可以選擇的極限值。 - 用于特殊配置的客戶參數(shù)設(shè)置以及快速儀器設(shè)置 - 靈活的電源系統(tǒng)，可通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)AA電池或可充電電池組供電。 - 多語(yǔ)言用戶界面 - 自動(dòng)超聲波調(diào)節(jié)性能(增益和閘門控制) - 支持多種類的標(biāo)準(zhǔn)探頭 聲速測(cè)量選件：CL 5V 可測(cè)定聲波穿過(guò)鑄件、合金或者塑料時(shí)的速度，得出所測(cè)材料內(nèi)部組織是否緊密無(wú)缺陷。 如可預(yù)先將球墨鑄鐵不同球化率百分比(通過(guò)金相法)試樣做出，分別測(cè)量其不同的聲速值，對(duì)鑄件進(jìn)行批量檢查。 實(shí)時(shí)A掃描選件：CL 5AS 可選實(shí)時(shí)A掃描功能使得用戶可以實(shí)時(shí)觀察CL 5正在以數(shù)字方式測(cè)量的回波。觀察實(shí)時(shí)A掃描可以幫助用戶正確調(diào)整探頭和測(cè)試件，從而獲得*佳測(cè)量值。用戶通過(guò)觀察實(shí)時(shí)A掃描可以確保測(cè)量的是正確的回波并且數(shù)字值也是正確的。 數(shù)據(jù)記錄器選件：CL 5DR 利用數(shù)據(jù)記錄器選項(xiàng)可以快捷地以文件形式存儲(chǔ)厚度值。用戶可*編程的數(shù)據(jù)記錄器*多可以存儲(chǔ)10000個(gè)測(cè)量值或者500個(gè)帶A掃描的值?？删幊虜?shù)據(jù)記錄器可以直接從CL 5鍵盤創(chuàng)建數(shù)據(jù)記錄器文件， 或者利用靈活的UltraMATELite或UltraMATE軟件程序通過(guò)電腦創(chuàng)建。數(shù)據(jù)記錄器支持字母數(shù)字文件名、標(biāo)準(zhǔn)線性和網(wǎng)格文件以及自定義線性文件。 擴(kuò)充了的文件類型存儲(chǔ)每一測(cè)量點(diǎn)的厚度值、聲速設(shè)置以及其它關(guān)鍵數(shù)據(jù)。CL5 和 UltraMATE一起構(gòu)成了上乘的測(cè)試數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)。 CL 5用途 CL 5是一個(gè)使用簡(jiǎn)便的精密厚度測(cè)量工具，主要用于汽車、航空和航天工業(yè)中的零部件，尤其是以下材料： 鑄造和沖壓金屬元件，比如鋁、鋼、銅、 - 青銅制成的元件 - 機(jī)加工工件 - 化學(xué)蝕刻元件 - 金屬條，金屬板 - 塑料和復(fù)合材料 - 玻璃 CL 5可以單手握持并置于平坦工件上，是測(cè)量材料厚度和檢查鋼板腐蝕的*為小巧的儀器。 超聲波測(cè)厚儀CL5技術(shù)參數(shù)
CL5高精度測(cè)厚儀探頭技術(shù)數(shù)據(jù)
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
