概要
一代的X射線熒光分析顯微鏡XGT-7000開創(chuàng)了科學(xué)分析的新時(shí)代。它將光學(xué)圖像與元素分析地結(jié)合，為科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。
SDD檢測(cè)器保證了高速、高精度元素面掃描；高能量分辨率，高計(jì)數(shù)率的測(cè)量，且無需液氮。
雙真空式設(shè)計(jì)確保用戶可以在幾秒鐘內(nèi)完成樣品室內(nèi)部氛圍的切換（大氣或真空）。即使測(cè)量含水樣品、生物樣品時(shí)也可以保證測(cè)量所有元素的高靈敏度。
*的硬件設(shè)計(jì)確保了XGT-7000操作的靈活性和廣泛的應(yīng)用范圍。通過軟件控制x射線導(dǎo)管在10 µm和1.2 mm間切換，以保證獲得測(cè)量條件，無論是微觀到宏觀。
與x射線導(dǎo)管同軸的CCD相機(jī)，可以迅速、精確地定位感興趣區(qū)域。
單點(diǎn)及多點(diǎn)自動(dòng)分析
單點(diǎn)和自動(dòng)多點(diǎn)分析功能使得無論是從單個(gè)分析位置或是用戶定義的一系列位置上均可以獲得高質(zhì)量的譜圖。
可自動(dòng)標(biāo)注元素譜峰。使用基本參數(shù)法或單標(biāo)樣基本參數(shù)法或是標(biāo)準(zhǔn)樣品校正曲線法定量計(jì)算，可測(cè)量ppm級(jí)的含量。膜厚分析軟件可以分析nm級(jí)或µm級(jí)樣品的多層膜厚。
高光譜面掃描
SmartMap軟件在每個(gè)像素點(diǎn)采集元素譜圖。采集結(jié)束后，用戶可以根據(jù)自己的分析，添加或刪除某個(gè)元素面分布圖，實(shí)現(xiàn)已有數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)脫機(jī)分析。
X射線透射圖像有利于用戶觀察樣品內(nèi)部構(gòu)造，實(shí)現(xiàn)真正的無損內(nèi)部觀測(cè)。
特征
有著諸多創(chuàng)新的XGT-7200在眾多領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用：電子電器、發(fā)動(dòng)機(jī)磨損分析、法醫(yī)科學(xué)、地質(zhì)礦物、醫(yī)藥、博物館、冶金、生物等。
XGT-7200的靈活設(shè)計(jì)，保證用戶通過簡(jiǎn)易的操作即可獲得高質(zhì)量的分析結(jié)果，無論是分析大區(qū)域，還是對(duì)微區(qū)細(xì)節(jié)分析，或是同時(shí)采集X射線熒光圖像和X射線透過像。
- 的空間分辨率
HORIBA*的X射線光管技術(shù)提供高空間分辨率微區(qū)XRF分析，X射線光斑直徑小到10微米。這種強(qiáng)度的超細(xì)光斑，可進(jìn)行快速無損的微細(xì)結(jié)構(gòu)分析。
- X射線透過像
同時(shí)采集XRF圖像和X射線透過像的功能，可以用來分析無法用肉眼觀察到的樣品內(nèi)部構(gòu)造和元素組成。采用超細(xì)垂直的X射線束，即使觀察不平坦樣品也可以獲得清晰的內(nèi)部圖像。
- 雙真空模式
*的雙真空模式設(shè)計(jì)- 彼此間的切換在數(shù)秒內(nèi)即可完成。
- 全真空模式，整個(gè)樣品室處于真空氛圍以保證輕元素分析的高靈敏度。
- 局部真空模式，樣品處于大氣氛圍中，適宜于含水樣品的分析，如生物組織、文物碎片和館藏文物等。
- 完整地分析整個(gè)樣品
- 整合數(shù)據(jù)采集和分析的操作軟件
界面友好的操作軟件允許用戶方便的控制硬件、選擇測(cè)量區(qū)域和全數(shù)據(jù)分析。功能包括：自動(dòng)標(biāo)定譜峰、定性定量測(cè)量、RGB圖像合成，線分析等。
大尺寸的樣品室使得分析整個(gè)樣品成為可能，用10微米束斑可以分析微小區(qū)域甚至到測(cè)量大至10cm x 10cm的區(qū)域。
