| 重量：1.8（kg） | 類型：超聲波探傷儀 | 型號：SBLJ-50/50B/50G |
| 尺寸：225*170*50（mm） | 分辨率：≧40dB | 品牌：SBE |
| 測量范圍：0～10000 |
| SBLJ-30/30B/30G |
數(shù)字超聲波探傷儀，體積更小巧、重量更輕便，便攜性更強，特別適合野外及高空探傷！
外形尺寸（mm）：210*156*40
重量（kg）：1.2
技術參數(shù)
名稱 | 技術數(shù)據(jù) |
掃描范圍（mm） | 0～10000 |
垂直線性誤差 | ≦3% |
水平線性誤差 | ≦0.2% |
探傷靈敏度余量 | ≧62dB（深200mmφ2平底孔） |
動態(tài)范圍 | ≧32dB |
分辨率 | ≧40dB |
頻率范圍（MHz） | 0.5～20 |
增益調(diào)節(jié)（dB） | 0～110 |
材料聲速（m/s） | 1000～9999 |
抑制 | 0～80% |
工作溫度（℃） | -27～70 |
外形尺寸（mm） | 225*170*50（LBUT50/50B） |
重量（Kg） | 1.8（LBUT50/50B） |
主要功能
l 兩孔測試法自動校準：探頭K值、前沿、零點、材料聲速；
l 10個獨立探傷通道，可自由存儲、回放300幅A掃波形及數(shù)據(jù)（可根據(jù)用戶需求擴展）；
l DAC、AVG曲線自動生成并可以分段制作，取樣點不受限制，并可進行修正與補償；
l 自動錄制探傷過程并可以進行動態(tài)回放；
l Φ值計算(大平底、平底孔、短橫孔等于Φ值自動計算)；
l K值自動計算；
l 超高采樣率、超低噪聲；
l 回波次數(shù)分析。
輔助功能
l 自動增益、回波包絡、峰值記憶功能提高了探傷效率；
l 自動顯示缺陷回波位置(深度d、水平p、距離s、波幅H、當量dB、孔徑Φ值)；
l 自由切換三種標尺(深度d、水平p、距離s)；
l 角度和K值兩種輸入方式；
l 閘門聲光報警；
l 中英文操作界面。
產(chǎn)品特點
l 與計算機通訊，實現(xiàn)計算機數(shù)據(jù)管理，井可導出Exce l格式、A4紙張的探傷報告；
l 利用PC端通訊軟件可以升級儀器系統(tǒng)的功能；
l 高性能安全環(huán)保鋰電池供電．可連續(xù)工作1 0小時；
l IP65標準鋁鎂合金外殼，堅固耐用，防水防塵，抗*力；
l 大屏超高亮顯示，亮度可調(diào)，適合強光、弱光的工作環(huán)境；
l 快速旋鈕調(diào)節(jié)、操作便捷。
