●產(chǎn)品概述:
本套探針分別符合GB2099.1-2008標(biāo)準(zhǔn)中的圖9及圖10、IEC884-1.2002圖9及圖10要求,20N推力探針主要用于檢驗(yàn)保護(hù)門內(nèi)的帶電部件是否被觸及,1N推力探針主要用于檢驗(yàn)保護(hù)門內(nèi)的帶電部件及有加強(qiáng)保護(hù)插座的帶電部件是否被觸及。
●技術(shù)參數(shù)
20N推力試驗(yàn)探針JX-I20:探針部分3+0.03 0×1+0.015 0×80±0.5,端部倒圓R0.2±0.05,20N推力;
1N推力試驗(yàn)探針JX-I21:探針部分Φ1+0.015 0×80±0.5,端部倒圓R0.05,1N推力
●使用方法
將探針端部接觸試樣,然后施力20N(1N),當(dāng)探針凸出端A-A面與B-B面平齊即可。