ELEMENT Instrument分析的優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)
*超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測(cè)速度、超人性化界面
*易于使用,一鍵操作,即可獲得鍍層厚度及組成成份的分析結(jié)果
*有助于識(shí)別鍍層成分的創(chuàng)新型功能
*機(jī)身結(jié)構(gòu)小巧結(jié)實(shí),外形十分漂亮,適合放置于陳列展室
*按下按鈕的數(shù)秒之內(nèi),即可得到有關(guān)樣件鍍層厚度的精確結(jié)果
*使用PC機(jī)和軟件,可以迅速方便地制作樣件的檢驗(yàn)結(jié)果證書(shū)
*用戶通過(guò)攝像頭及艙內(nèi)照明系統(tǒng),可看到樣件測(cè)試位置,提升了用戶測(cè)試信心
*Thick系列分析儀測(cè)試數(shù)據(jù)可以下載和上傳網(wǎng)絡(luò),檢測(cè)結(jié)果易于查看和分享
*有X射線防護(hù)鎖,只有在封閉狀態(tài)下才發(fā)射X射線,安全、可靠的保證客戶使用
Thick 880臺(tái)式XRF鍍層分析儀
硬件性能及優(yōu)勢(shì)
超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測(cè)速度、超
人性化界面
儀器性能
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
同時(shí)可以分析幾十種以上元素,五層鍍層
分析檢出限可達(dá)2ppm,鍍層分析可以分析0.005um厚度樣品
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以?xún)?nèi)(每種材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%
長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性可達(dá)0.1%
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
儀器配置
高壓電源 0 ~ 50KV
光管管流 0μA ~ 1000μA
攝像頭
濾光片 可選擇多種定制切換
探測(cè)器 美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器
多道分析器 ELEMENT INSTRUMENT-DMCP
樣品腔尺寸 310*280*60(mm)
測(cè)試時(shí)間10sec ~ 100sec
儀器環(huán)境要求
環(huán)境溫度 15°C ~ 30°C
相對(duì)濕度 35% ~ 70%
電源要求 AC 220V±5V, 50/60HZ
分析軟件 ELEMENT INSTRUMENT-FP定性定量分析軟件
外部尺寸 380*372*362(mm)
重量 29Kg