ED400型渦流測(cè)厚儀

產(chǎn)品概述：

ED400型渦流測(cè)厚儀是ED300型測(cè)厚儀的改進(jìn)型，儀器性能顯著提高。

儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng).氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽(yáng).氧化膜或涂層厚度，測(cè)量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。

儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無(wú)損的膜厚檢查， 可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。

儀器符合 標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。

儀器特點(diǎn)：
ED400型渦流測(cè)厚儀與ED300型相比，具有如下特點(diǎn)：
＊量程寬 ED400型渦流測(cè)厚儀量程達(dá)到0～500μm。
＊精度高 測(cè)量精度達(dá)到2%。
＊分辨率高 分辨率達(dá)到0.1μm。
＊校正簡(jiǎn)便 只校正“0”和“50μm”兩點(diǎn)，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
＊基體導(dǎo)電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí)，測(cè)量誤差不大于1～2μm。
＊可靠性提高 采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性提高。
＊穩(wěn)定性提高 采用先*的溫度補(bǔ)償技術(shù)，測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。
＊探頭芯壽命長(zhǎng) 采用高強(qiáng)度磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計(jì)，探頭芯壽命可大大延長(zhǎng)。
＊探頭可互換 外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無(wú)需返廠維修。

技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量范圍：0～500μm
測(cè)量精度：0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分 辨 率：0～50μm：0.1μm；
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可選）
使用溫度：5～45℃
外形尺寸：150mm×80mm×30mm
重 量：280g

配置與選配：

標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、探頭、基體（6063鋁合金）、校正箔片 一套4片（附檢測(cè)報(bào)告）、儀器箱

可選附件：備用探頭、基體、校正箔片（附檢測(cè)報(bào)告）