:綜合環(huán)境試驗(yàn)室
滿足標(biāo)準(zhǔn):
1、 GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
2、 GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
3、 GB/T2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)Cab: 恒定濕熱試驗(yàn)
技術(shù)要求:
1、 低溫試驗(yàn),在-40℃~0℃ 測試復(fù)合絕緣子的環(huán)境耐受性;
2、 高溫試驗(yàn),在30%~98%相對(duì)濕度下測試復(fù)合絕緣子的環(huán)境耐受性;
3、 覆冰試驗(yàn),在0~10m/s風(fēng)和-5℃、-10℃組合條件下測試復(fù)合絕緣子的環(huán)境耐受性;
4、 工作室尺寸:3.2m*2.0*32.3m
使用環(huán)境:
1、 環(huán)境溫度:-15~40℃
2、 相對(duì)濕度:不大于98%
3、 海拔高度:≤1000m
4、 運(yùn)行條件:戶外獨(dú)立長期運(yùn)行。