滿足標(biāo)準(zhǔn):
滿足GB10586-2006:濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2008:低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93(IEC68-2-3)
GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Da:交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)