QNix4200型號體化/分體化設(shè)計,只需調(diào)零,無需校準(zhǔn),使用極其簡單。QNix4200為磁性測厚儀,可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層,QNix4200操作簡單,攜帶方便,精度高,為廣大用戶所喜愛。
產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn):
• 只需調(diào)零,無需校準(zhǔn)
• 體積小巧,操作方便
• 一機(jī)雙用,自動識別基體
• 精度高
• 價格便宜
涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)
技術(shù)參數(shù) | |
磁性基體(Fe模式) | QNix4200/4500均有此功能 |
非磁性基體(NFe模式) | QNix4500有此功能 |
測量范圍 | QN4200:Fe:0-3000um |
QNIX4500:Fe:0-3000um;NFe:0-3000um QNIX4500(5mm型):Fe:0-5000um;NFe:0-3000um QNIX4500(分體型):Fe:0-3000um;NFe:0-3000um | |
顯示精度 | 0.1um |
精度 | 0-50um:≤±1um |
50-1000um:≤±1.5%讀數(shù) | |
1000-3000um≤±3%讀數(shù) | |
*小接觸面 | 10×10mm/QNix4500 |
*小曲率半徑 | 凸面:3mm;凹面:25mm |
*小基體厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
溫度補(bǔ)償范圍 | 0-60℃ |
顯示 | LCD液晶(帶背光) |
探頭 | 紅寶石固定式 |
電源 | 2×1.5V干電池 |
尺寸 | 100×60×27mm |
重量 | 110g |