"1. 應(yīng)用范圍：
EXPLORER可以進(jìn)行常規(guī)的晶相識別和相定量，可以分析晶體尺寸、晶格應(yīng)變及結(jié)晶度的計算。也可以定量分析殘留奧氏體、多晶物篩查、晶體結(jié)構(gòu)分析、殘余應(yīng)力分析、薄膜分析、深度剖析、相變紋理和優(yōu)先取向和納米粒子分析。
2．概 述
EXPLORER采用模塊化設(shè)計，全部組件可以進(jìn)行拆分為7個模塊，同時可以在5個獨立自由度上檢測樣品。同時EXPLORER可以提供多種配置，如范圍更寬的X射線源、光路、樣品臺和檢測器等，可以滿足各種應(yīng)用需求。此外將直接傳動轉(zhuǎn)矩馬達(dá)與優(yōu)勢的光學(xué)編碼器相結(jié)合，確保了儀器的傳動速度和精度，可以勝任各類樣品的定性和定量分析。
3. 技術(shù)規(guī)格
3.1 X射線發(fā)生器
3.11 輸出功率： 3 KW(可選配4 kW)
3.12 輸出穩(wěn)定性： < 0.01 % ( 10%電壓波動)
3.13 輸出電壓： 60kv
3.14 輸出電流 : 60A(可選配80A)
3.16 電壓步寬： 0.1kV
3.17 電流步寬： 0.1mA
