粗糙度儀測(cè)量平臺(tái)TA610
- 齒條升降,立柱可以隨意轉(zhuǎn)動(dòng),用來
測(cè)量不容易放置的工件,可提高測(cè)量精度 - 花崗巖平臺(tái)平面度:00級(jí)|平面公差值3μm
- 花崗巖平臺(tái)尺寸:400×250×70mm
- 垂直升降高度:270mm
- 垂直升降微調(diào)量:20mm
TA620
- 絲桿升降,平臺(tái)上設(shè)置V型槽,用來測(cè)
量形狀較小的工件,可提高測(cè)量精度 - 花崗巖平臺(tái)平面度:00級(jí)|平面公差值3μm
- 花崗巖平臺(tái)尺寸:400×250×70mm
- 垂直升降高度:300±1mm
- 升降回程誤差:≤手輪旋轉(zhuǎn)1/6圈
TA650|TR300專用
- 垂直方向上的升降高度:300±1mm
微調(diào)由儀器上的可調(diào)支架完成 - 垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度:±45°
- 回程誤差:不大于手輪的1/6圈
- 平臺(tái)的平面度:00級(jí)|平面公差值3μm
- 平臺(tái)尺寸:600×420×80 mm
- 總高度:695 mm
- 垂直方向上的升降高度:300±1mm
- 絲桿升降,平臺(tái)上設(shè)置V型槽,用來測(cè)