QNix4200和QNix4500采用一體化設計,只需調(diào)零,無需校準,使用極其簡單。其中QNix4200為磁性測厚儀,可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層;QNix4500為磁性和渦流兩用測厚儀,不僅可以用來測量鋼鐵等磁性基體,還可以用來測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層。操作簡單,攜帶方便,精度高,為廣大用戶所喜愛。產(chǎn)品優(yōu)點:只需調(diào)零,無需校準體積小巧,操作方便,自動識別基體,精度高,價格便宜
標配探頭:
探頭形式 | 一體式 |
可選探頭 | Fe鐵基探頭:0-3000μm NFe非鐵基探頭: 0-2000μm |
技術參數(shù):
測量范圍:Fe鐵基探頭:0-3000μm NFe非鐵基探頭: 0-2000μm顯示精度:0.1um 重量:110g
精度:0-50um:≤±1um;50-1000um:≤±1.5%讀數(shù);1000-3000um≤±3%讀數(shù)
*小接觸面:10×10mm/QNix4500
*小曲率半徑:凸面:3mm;凹面:25mm
*小基體厚度:Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
溫度補償范圍:0-60℃
顯示:LCD液晶(帶背光)
探頭:紅寶石固定式
電源:2×1.5V干電池
尺寸:100×60×27mm
標準配置:
主機含探頭、
校準基體、
電池、
隨機文件、
儀器箱