產(chǎn)品綜述
6433系列光波元件分析儀包括6433D(10MHz~20GHz)、6433F(10MHz~43.5GHz)、6433H(10MHz~50GHz)、6433L(10MHz~67GHz)。6433系列是面向高速電-光(E/O)器件、光-電(O/E)器件、光-光(O/O)器件特性測試的解決方案,調制頻率范圍覆蓋10MHz~67GHz,支持不同頻率范圍、頻率間隔、中頻帶寬的設置,最小頻率分辨率達到1Hz。6433系列采用一體集成的設計方案,通過寬帶硬件優(yōu)化設計,構建網(wǎng)絡誤差模型,利用核心校準算法,實現(xiàn)了一鍵式寬帶快速掃頻測試,主要用于現(xiàn)代高速光傳輸系統(tǒng)中核心電-光器件(電光調制器、直接調制激光器、光發(fā)射組件)、電-光器件(PIN光電探測器、APD光電探測器、光接收組件)、光-光器件(光纖濾波器等光無源器件)的帶寬、幅頻響應、相頻響應、群時延等參數(shù)測試。
功能特點
主要特點
l 校準方便快捷,向導式操作流程
l 一體化多功能操作界面
l 大動態(tài)測量范圍,測量軌跡噪聲小
l 用戶數(shù)據(jù)自動移除,為在片測試提供擴展使用
l 單端-平衡光電器件模式測量
l 多功能化工具箱
l 內、外部光源波長設定,更寬的通信波長測試范圍
校準方便快捷,向導式操作流程
6433系列光波元件分析儀在校準方面具有清晰的操作流程,主要包括電校準和光路參數(shù)校準,通過采用向導式操作提示為用戶提供快速高精度校準。
一體化多功能操作界面
6433系列光波元件分析儀具備了電-電、電-光、光-電、光-光四種測量模式,功能模式之間可任意切換,滿足了目前絕大多數(shù)通用器件的S參數(shù)、阻抗、時域等參數(shù)測量需求。
大動態(tài)測量范圍,測量軌跡噪聲小
采用了高精度和響應平坦的內部核心器件,結合通過設定不同中頻帶寬和平均,可獲得更大的動態(tài)測量范圍和更小的軌跡噪聲,可以獲取測量結果的更多細節(jié)。
用戶數(shù)據(jù)自動移除,為在片測試提供擴展使用
通過用戶自定數(shù)據(jù)或夾具去嵌入數(shù)據(jù)提升測量精度,尤其在片測試時所需的探針誤差移除時,使得測量更加靈活,滿足用戶不同場合的測量需求。
單端-平衡光電器件模式測量
儀器可通過選用不同的配置,滿足單端-單端和單端-平衡的光發(fā)射或光接收器件或組件對差分增益和共模抑制參數(shù)的測試需求,更加貼合現(xiàn)有和未來高速光纖通信領域中多端口參數(shù)的測量場合。
多功能化工具箱
內置大動態(tài)范圍光功率計,可實時監(jiān)測輸入光功率數(shù)值,通過高級設置,可將光發(fā)射模塊設定為保偏激光源輸出模式(CW)模式,消光比大于20dB,為M-Z型LiNiO3調制器提供所需的保偏光源。
內、外部光源波長設定,更寬的通信波長測試范圍
測試不僅局限于1310nm/1550nm,支持1260nm~1630nm的外部光源輸入,覆蓋更寬的通信波長,滿足CWDM、DWDM系統(tǒng)核心器件測量需求。
典型應用
高速光電探測器、直接調制激光器、電光調制器幅頻、相頻響應特性測試。
電光器件特性分析
電光調制器、直接調制激光器等電光器件的S11參數(shù)和S21參數(shù)測試,通過多窗口對比分析,用戶能更快獲取測試對象的各頻點反射和傳輸特性。
光電器件頻率響應特性測試
實現(xiàn)光電探測器等光電器件的10MHz~67GHz頻率響應測試,3dB帶寬快速分析及精準頻響測試可滿足科研、產(chǎn)品線等測試需求。
相頻響應特性分析
產(chǎn)品具有強大的相頻響應特性測量功能,快速分析光電器件相位、群時延等參數(shù)。