出色的精確性和長期的穩(wěn)定性:
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●高分辨半導(dǎo)體探測器完成簡單快速的元素識別;
●通過多個初級濾波器對全元素范圍實現(xiàn)的分析效果;
●日立分析儀器公司*的低背景測量板,實現(xiàn)更低的檢出下限。詳細資料請咨詢客服!利用X射線熒光(XRF)進行鍍層厚度測量和材料分析,提高過程和質(zhì)量控制。X-Strata是結(jié)構(gòu)緊湊、堅固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設(shè)備,提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。它在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力,可進行多鍍層厚度的測量。