兩槽式冷熱沖擊箱TSD
本系列環(huán)境實驗箱可為用戶檢驗、檢測電子電工元器件、零配件或相關(guān)行業(yè)的實驗部門提供一個模擬環(huán)境,為測試數(shù)據(jù)的準確性和*性(可重復)提供*條件。該產(chǎn)品具有簡單的操作性能和可靠的設(shè)備性能,便捷操作的計測裝置,結(jié)構(gòu)一體化程度高,科學的空氣流通設(shè)計,使室內(nèi)溫濕度均勻,避免任何死角;完備的保護裝置,避免了任何可能發(fā)生的隱患,保證設(shè)備的長期可靠性
兩箱式高低溫沖擊試驗箱參照標準
本試驗箱符合GB/T2423.1 低溫試驗方法、GB/T2423.2高溫試驗方法。GJB150.5-86溫度沖擊試驗法 、GJB360A-96電子及電氣元件試驗方法。
GJB 150.3高溫試驗;GJB 150.4 低溫試驗;
GB10588-2006 高溫試驗箱技術(shù)條件;
GB10589-2006 低溫試驗箱技術(shù)條件;
GB/T10592高低溫試驗箱技術(shù)條件;
QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14標準中所要求的試驗
兩槽式冷熱沖擊箱TSD
兩箱式高低溫沖擊試驗箱控制系統(tǒng)
1.設(shè)置方式:觸摸,點擊
2.顯示方式:彩色LCD背光觸摸屏中文顯示
3.設(shè)定、顯示分辨率:溫度(0.1℃);時間(1min)
4.圖形顯示:完整顯示設(shè)定程序曲線。
5.設(shè)置參數(shù)保存時間:充滿電后,數(shù)據(jù)可保存5年。
6.程序數(shù):1~499(Z大499個程序)。