產(chǎn)品簡介:
GT2100A 數(shù)字集成電路測試儀，利用*的多值參數(shù)比較法，可以對(duì)數(shù)字IC進(jìn)行功能測試的同時(shí)完成各項(xiàng)直流參數(shù)測試。GT2100A*可以滿足IC用戶的參數(shù)測試要求。GT2100A是一種性能實(shí)用、操作簡單、測試可信度高、成本低廉的測試儀器。
數(shù)字集成電路多參數(shù)測試儀GT2100A 適合器件生產(chǎn)廠、整機(jī)生產(chǎn)廠作器件測試篩選之用，也適合科研、學(xué)校、*、IC經(jīng)銷商使用。
集成電路測試儀系統(tǒng)的主要特點(diǎn):
1． 測試電源拉偏狀態(tài)下，輸出電平加載測試。
2． 對(duì)輸出電流、輸出電壓直流參數(shù)進(jìn)行測試的同時(shí)，完成真值表功能測試。
3． 真值表功能測試的同時(shí)，完成“三態(tài)”（高阻狀態(tài)）漏電流測試。
4． 對(duì)IC輸入電流、功耗電流測試。
5． 輸入漏電流及交叉漏電流測試。
6． 測試過程無須人工干預(yù)。
7． 用戶可以自選測試模式，使用方便、操作簡潔。
8． 可自動(dòng)識(shí)別74系列中的CMOS器件。
9． 可以查找未知IC的型號(hào)。
產(chǎn)品主要性能:
在功能測試的基礎(chǔ)上
1. 測試器件的輸入端注入電流。
2.測試器件的輸入端交叉漏電流。
3.測試器件的輸出端“三態(tài)”及“OC”門。
4. 測試器件的輸出負(fù)載電流。
5. 測試器件的功耗電流。
6.查找未知芯片型號(hào)。
7. 可以單次測試，也可以循環(huán)測試.
8.可自動(dòng)識(shí)別74系列中的CMOS器件（如：74C、74HC、74HCT等）。當(dāng)被測芯片被確認(rèn)為74系列CMOS器件時(shí)，儀器將自動(dòng)地對(duì)其進(jìn)行測試并在顯示屏前顯示一個(gè)“C”字（此時(shí)被測器件電源為TTL電源）。
多值測試參數(shù):
1.8種可選擇的測試電源。
2.根據(jù)不同材料的IC設(shè)置多種輸入端注入電流。
3. 多種測試電壓比較值。
4. 功耗測試。
以上參數(shù)的不同組合構(gòu)成不同的測試模式，其中包括用戶自定義模式及全組合測試模式。
測試模式:
1.模式O： 全組合參數(shù)測試。
2.模式1-C：操作與模式O相同，但各有其不同的測試參數(shù)數(shù)值。
3.模式D： 任選輸入負(fù)載電流及測試電源和輸入電流測試。
4.模式E： 自檢。內(nèi)容包括計(jì)算機(jī)部分、顯示、鍵盤及測試管腳電路。
5.模式F： 自編程測試。
測試范圍及測試品種: 28Pin
1. 54 系列；4500 系列；
2. RAM 256K bit
3.74 系列；40000 系列；
4. EPROM 64K bit
5. 4000 系列；C00 系列。
6.光耦
