FT-361超低阻雙電四探針測(cè)試儀
一、概述：本品為解決四探針?lè)y(cè)試超低阻材料方阻及電阻率，最小可以測(cè)試到1uΩ方阻值，是目前同行業(yè)中能測(cè)量到的最小值，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。選購(gòu)：本機(jī)還可以配合各類環(huán)境溫度試驗(yàn)箱體使用，通過(guò)不同的測(cè)量治具滿足不同環(huán)境溫度下測(cè)量方阻和電阻率的需求.
二、廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試
硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等提供中文或英文兩種語(yǔ)言操作界面選擇，滿足國(guó)內(nèi)及國(guó)外客戶需求
三、參數(shù)資料
1.方塊電阻范圍：1×10-6～2×105Ω/□
電阻范圍：10-7～2×106Ω
2.電阻率范圍：10-7～2×106Ω-cm
3.測(cè)試電流范圍：1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA
4.電流精度：±0.1%讀數(shù)
5.電阻精度：≤0.3%
6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率.
7.測(cè)試方式: 雙電測(cè)量
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W
9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
10.選購(gòu)功能: 選購(gòu)1.pc軟件； 2.方形探頭； 3.直線形探頭； 4.測(cè)試平臺(tái)
11.測(cè)試探頭： 探針間距選購(gòu)：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針FT-361系列超低阻雙電四探針測(cè)試儀
FT-361 Series ultra-low resistance double electric four-probe tester
一.概述Overview：
四探針?lè)y(cè)試超低阻材料方阻及電阻率，最小可以測(cè)試到1uΩ方阻值，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，液晶顯示，自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量，系數(shù)補(bǔ)償，The four probe method tests the resistance and resistivity of ultra-low resistance materials. minimum can test to 1 u Ω square resistance. AD chip with high precision control. constant current output. LCD display. automatic data measured. coefficient of compensation.
參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量. 提供中文或英文語(yǔ)言版本.Refer to the American A.S.T.M. standard.Using The transformation of the current probe and voltage probe to make two times electric measurements. Provide Chinese or English language version.
二.廣泛用于Widely used：
四探針?lè)y(cè)試的 高導(dǎo)電性新材料、鋁箔、銅箔等具有類似性質(zhì)要求測(cè)量的材料.
The high conductivity new materials.aluminum foil. copper foil. etc. which have similar properties are tested by four probes test method.
三.技術(shù)參數(shù)Technical Parameters：
規(guī)格型號(hào)specification model | FT-361A | FT-361B |
1.方塊電阻范圍sheet resistance | 10-6～2×102Ω/□ | 10-6～2×105Ω/□ |
2.電阻率范圍resistivity | 10-7～2×103Ω-cm | 10-7～2×106Ω-cm |
3.測(cè)試電流范圍test current | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA | |
4.電流精度current accuracy | ±0.1% | |
5.電阻精度resistance accuracy | ≤0.3% | |
6.顯示讀數(shù)display | 液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity | |
7.測(cè)試方式test mode | 組合雙電測(cè)試方法combined double electric test method | |
8.工作電源working power | 輸入: AC 220V±10%.50Hz功 耗：<30W | |
9.誤差errors | 整機(jī)不確定性Machine uncertain≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）（standard samples） | |
10.選購(gòu)功能choose to buy | 選購(gòu)1.pc軟件； 選購(gòu)2.方形探頭； 選購(gòu)3.直線形探頭； 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái)；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform | |
11.測(cè)試探頭test probe | 探針間距選購(gòu)： 2mm；3mm兩種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. | |
