離子遷移測試裝置（CAF）（Ion Migration Test Device）用于測試電子產(chǎn)品中的材料是否存在離子遷移現(xiàn)象。其原理是在加速電場的作用下，使樣品中的離子遷移到對面的電極上，從而檢測出樣品中是否存在離子遷移。
通常該裝置由兩個電極、電源、電壓控制器和采樣器等部分組成。樣品被放置在兩個電極之間，然后施加電場并記錄電流隨時間的變化情況。如果電流隨時間逐漸增加，則說明樣品中可能存在離子遷移現(xiàn)象。
離子遷移測試裝置（CAF）主要用于評估電子產(chǎn)品中使用的材料是否能夠滿足相關(guān)標準和法規(guī)的要求，以確保產(chǎn)品的可靠性和耐久性。
ECM-100離子遷移測試裝置是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ）。
ECM-100離子遷移測試裝置產(chǎn)品優(yōu)勢
簡單/便利
△采用驅(qū)動計測，測試時焊接工序大幅減少。
△軟件設(shè)計簡單明了，能夠非常直觀得操作。
△配有過程中的記錄、報告相關(guān)的報表功能。
△測試中，設(shè)備可以單獨運行，電腦電源切斷也不受影響。
高性能&高機能
△因為每個通道都單獨配有電壓/計測電路，可以做到16ms的計測間隔。
→遷移現(xiàn)象的檢測能力更高，對產(chǎn)品品質(zhì)把控更精準。
△一臺電腦可以增設(shè)400通道。
△每個通道可以設(shè)定不同的電壓。
可靠性更高&操作更簡潔
△具有自身診斷機能，把異常計測防范于未然。
△配有CF卡，以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。
△每個單元獨立，其中一個單元損壞，可以單獨拆卸維修，而不影響其他通道使用。
△標準配置也可以接入1~300V的電壓范圍。
用途
△PCB板、焊接、樹脂、導(dǎo)電性粘著劑、絕緣材料等電遷移測試。
△作為高性能/多通道絕緣電阻測試裝置，可以在多領(lǐng)域利用。
實例
△測試難度大的高阻值也能除去干擾，清晰得進行測試。
△16msec的高速抽樣處理，不會漏掉任何一個數(shù)據(jù)。
△電容器等絕緣電阻的試驗也非常合適。
離子遷移測試裝置
