精密分析天平XPE系列功能特點(diǎn):
精密分析天平XPE系列*大限度地減少靜電荷
我們的 StaticDetect 靜電檢測(cè)技術(shù)可檢測(cè)樣品或其容器上的靜電荷。 如果稱量錯(cuò)誤超過用戶定義的限值,則出現(xiàn)警告;然后可以采取防靜電措施。 為了獲得過程安全性,可鎖定稱量結(jié)果的發(fā)布。
精密分析天平XPE系列用戶引導(dǎo)過程管理
梅特勒-托利多的 LabX® 實(shí)驗(yàn)室軟件可在天平觸摸屏上顯示的靈活的 SOP 用戶指南。 利用自動(dòng)數(shù)據(jù)處理、計(jì)算和報(bào)告,具有 LabX 軟件的天平可以輕松實(shí)現(xiàn)過程安全性和可追溯性要求,并支持您實(shí)現(xiàn)無紙化實(shí)驗(yàn)室。
精密分析天平XPE系列結(jié)果可靠
超越系列分析天平將獲得磚利的梅特勒-托利多稱量技術(shù)與數(shù)十年的稱量專業(yè)知識(shí)相結(jié)合,確保您快速、可靠地獲得*佳的稱量結(jié)果!
精密分析天平XPE系列易于清潔
憑借*的網(wǎng)格秤盤和可在數(shù)秒鐘內(nèi)拆卸的防風(fēng)罩,始終確保稱量區(qū)域清潔、安全。
精密分析天平XPE系列規(guī)格型號(hào):