美國熱電5014i顆粒物監(jiān)測儀配件蓋革計數(shù)器
5014i 型環(huán)境顆粒物連續(xù)監(jiān)測儀在以下情況下，干擾影響通常zui大：
● 濾帶更換后的90 分鐘，直至濾帶上達到放射平衡
● 氡氣含量迅速變化期間
● C-14 源活性非常低的時候
美國熱電5014i顆粒物監(jiān)測儀配件蓋革計數(shù)器5014i 型環(huán)境顆粒物連續(xù)監(jiān)測儀利用 β 射線衰減法同時連續(xù)測定懸浮和微小顆粒物（例如，TSP、PM10、PM2.5 和 PM1）的質量濃度。此外，在顆粒物質量濃度計算過程中，扣除了天然氡氣（Rn-222）的放射影響，這樣可以在環(huán)境顆粒物濃度較低的情況下提供更好的靈敏度。與將碳 -14（C-14）作為 β 放射源的其它 β 衰減監(jiān)測儀對比，5014i 樣品收集區(qū)位于 C-14 源與比例計數(shù)器之間。
美國熱電5014i顆粒物監(jiān)測儀配件蓋革計數(shù)器當大氣顆粒物沉積到濾帶采樣點的同時，可通過 C-14 放射源發(fā)射的 β 射線的衰減來測定顆粒物在濾帶上的動態(tài)沉積。通過這種配置，提供連續(xù)性的環(huán)境顆粒物實時測量。無需將取樣點從樣品位置移動到單獨的檢測器位置以進行零值測定和質量測定（原步進式 β 衰減監(jiān)測儀法）。因此，通過使用這種連續(xù)環(huán)境顆粒物監(jiān)測方法消除了步進式濾帶傳輸?shù)牟淮_定性。
5014i 的另一個*設計是針對那些已知的影響 β 射線衰減法的背景干擾。實際使用時，天然惰性氣體氡（Rn-222）的子體核素附著到大氣顆粒物上，然后在質量測量期間將其收集在樣品濾帶上。一些放射性子體核素也是 β 射線的發(fā)射源，會干擾顆粒物質的正確測量。在以下情況下，干擾影響通常zui大：
● 濾帶更換后的90 分鐘，直至濾帶上達到放射平衡
● 氡氣含量迅速變化期間
● C-14 源活性非常低的時候
