XUL X射線熒光鍍層厚度測試儀器
HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統有超過17年的經驗。通過對所有相關過程包括X射線熒光測量法的**處理和使用了*新的軟件和硬件技術，FISCHER公司的X射線儀器具有其*的特點。
有一無二的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標準片校準并保證一定測量精度的情況下測量復雜的鍍層系統，同時可以對包含多達24種元素的材料進行分析（使用WinFTM® V.6軟件）
典型的應用范圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
*多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。
分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
分析電鍍溶液中的金屬離子濃度。
FISCHERSCOPE® XUL®設計為X-射線管和探測器系統位于測量臺下部。因此測量方向從下往上。這也就提供了一個重要的優(yōu)點，尤其對于測量各種不同幾何外形的小工件，例如螺絲、螺母、螺栓或各種各樣的電連接器。在絕大多數情況下，被測試工件的表面可直接放置于測量臺上，這就避免了在從上往下測量系統中需要的測量距離調整。測試點會自動地調整在正確的距離上。這就加快了測量的過程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的測量誤差。- FISCHE是一家實現了這種設計的X-射線熒光鍍層厚度測試儀器的制造廠商。
與WinFTM® V.6 軟件及校樣標準塊Gold Assay配合，XUL® 作為FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分，可以上乘地適應于快速，非破壞性和**的測量珠寶及貴金屬中金的成分。
FISCHERSCOPE® | |
測量方向 | 從下往上 |
X-射線管型號 | W 或 MW |
可調節(jié)的高壓 | |
開槽的測量箱體 | |
基本Ni濾波器 | |
接收器(Co) | |
數準器數目 | W-類型: 1 |
z-軸 | 無 |
測量臺類型 | 固定臺面或可 |
測試點的放大倍率 | 38 - 184 x |
DCM方法 | |
WinFTM® 版本 | V.3 標準 |
操作系統： |
Available versions
FISCHERSCOPE® XUL(M) Version with fixed test plate.
FISCHERSCOPE® XUL(M)-Xym Version with manual test stage
X Y travel 50 mm x 50 mm
Dimensions
Measurement head width = 455 mm; depth = 580 mm; height = 510 mm
Measurement chamber width = 360 mm; depth = 380 mm; height = 240 mm
涂裝 相關儀器：涂層測厚儀，漆膜硬度測試儀，電解膜厚儀，黏度計/粘度計，X射線測厚儀，附著力測試儀，微型光澤儀，分光色差儀，霧影儀，反射率測定儀，光譜儀，涂膜干燥時間記錄儀，標準光源箱
