1.儀器簡介
SPECTRO XEPOS 臺式偏振X射線熒光光譜儀是德國斯派克分析儀器公司推出的新一代儀器。擴展的偏振光學(xué)系統(tǒng)使用50W低能量的X射線管作為輻射源，用于Na-U元素的同時分析。從X射線管中發(fā)出的原始X射線通過高通量偏振光學(xué)系統(tǒng)進行轉(zhuǎn)換，得到的*偏振且部分單色的X射線可以高靈敏地測定各種元素。這種分析技術(shù)在許多應(yīng)用中不需要高吸收輻射的濾光片。
SPECTRO XEPOS可廣泛地應(yīng)用于石油、化工、冶金、礦業(yè)、制藥、食品、環(huán)保、地質(zhì)、建材、廢物處理以及再加工工業(yè)等。以油中各種元素的分析為例。使用SPECTO XEPOS，在氦氣保護狀態(tài)下，在300秒鐘之內(nèi)，對于P、S、Cl、Ca、Cu、Zn、Ba的檢測下限在1-7μg/g以上。
XEPOS型X射線熒光光譜儀還可廣泛應(yīng)用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、（汞）等元素分析，檢出下限低，靈敏度高、穩(wěn)定性好，可應(yīng)對ELV、WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083標(biāo)準(zhǔn)等。

2.儀器特點
SPECTRO XEPOS采用端窗鈀靶50W射線管。最多可裝8個偏振靶和次級靶， 可設(shè)定各種不同的激發(fā)條件，以確保對從Na到U的元素進行測定。
光閘系統(tǒng)可以確保在更換樣品時無需關(guān)閉光管，從而提高了系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
SPECTRO XEPOS采用目前的硅漂移檢測器（SDD）。無論計數(shù)率如何變化，分辨率均保持一致。特別設(shè)計的準(zhǔn)直器可顯著改善信噪比。光譜分辨率小于160eV（以Mn ka線計）。計數(shù)率為120,000cps。在高計數(shù)率下仍有較高的分辨率，可縮短分析時間、提高分析準(zhǔn)確度。
SPECTRO XEPOS*的分析性能不僅取決于它采用了功能強大的分析部件及*的偏振技術(shù)，而且還取決于其精準(zhǔn)的進樣設(shè)計。德國斯派克分析儀器公司在開發(fā) SPECTRO XEPOS時就專門考慮到進樣的問題。高精度樣品交換器、新型樣品盤的采用可大大減少機械和物力波動對測定的影響，改善分析結(jié)果。儀器配備樣品旋轉(zhuǎn)裝置，可進一步改善測定不均勻樣品以及表面不平整樣品的分析結(jié)果。
SPECTRO XEPOS軟件提供了一個簡單明了、使用簡便的操作界面。選定方法，輸入樣品識別信息，即可進行測定。通過完備的引導(dǎo)程序，操作者只需通過5個簡單步驟即可創(chuàng)建新的分析方法。采用基本參數(shù)法PF或采用專門的SPECTRO TurboQuant軟件，可輕而易舉的完成未知樣品的分析。SPECTRO XEPOS可搭載預(yù)制的應(yīng)用軟件包。該應(yīng)用軟件包括一套在出廠前就安裝和校正好的硬件和分析方法。適用于分析ROHS，廢渣，垃圾，油，水泥，爐渣等，SPECTRO XEPOS一機多用，是真正的多功能分析儀器。