产品简介:CMI900／950系列X射线萤光测厚仪是一种功能强大的材料涂/ 镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了CMI900/950主机的全面自动化控制。 适用产业：用于电子元件、半导体、PCB印刷电路板、汽车零件、功能性电镀、连接器、装饰件。
CMI900／950系列X射线萤光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了CMI900/950主机的全面自动化控制。
适用产业：用于电子元件、半导体、PCB印刷电路板、汽车零件、功能性电镀、连接器、装饰件。
CMI做为品牌在PCB，五金瑞子连接器及电镀行业已形成一个行业标准，南华地区90％以上的大型企业都在使用CMI900系列做为检测镀层厚度的行业工具 X-荧光镀层测厚仪CMI900金属镀层厚度的精确测量 CMI900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂／镀层测量仪器，可应用于材料的涂／镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000 中文视窗系统的中文版SmartLinkFP应用软件包，实现了对CMI900／950主机的全面自动化控制。
CMI900系列X-射线荧光镀层厚度测量仪技术参数：
A：CMI900X-射线荧光镀层厚度测量仪，在技术上一直以来都于的测厚行业.CMI900能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体，极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多5层、15种元素。
B：精确度于世界，精确到0.025um（相对与标准片）
C：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D：统计功能提供数据平均值、误差分析、值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK图、直方图、X-bar／R图等多种数据分析模式。CMI900／950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E：可测量任一测量点，最小可达0.025x0.051毫米样品台选择：CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。
CMI900系列X-射线荧光镀层厚度测量仪样品台选择：
CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：
一：手动样品台
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二：自动样品台
1程控样品台：XYZ轴自动控制。
2超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。
CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：
1全程控样品台：XYZ 三轴程序控制样品台，可接纳的样品高度为150mm，XY 轴程控移动范围为300mm x300mm。 此样品台可实现测定点自动编程控制。
2Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品高度为270mm。
3全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品高度为356mm。
可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。
CMI900／950系列X射线萤光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了CMI900/950主机的全面自动化控制。
适用产业：用于电子元件、半导体、PCB印刷电路板、汽车零件、功能性电镀、连接器、装饰件。
CMI900系列X-射线荧光镀层厚度测量仪技术参数：
A：CMI900X-射线荧光镀层厚度测量仪，在技术上一直以来都于的测厚行业.CMI900能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体，极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多5层、15种元素。
B：精确度于世界，精确到0.025um（相对与标准片）
C：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D：统计功能提供数据平均值、误差分析、值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK图、直方图、X-bar／R图等多种数据分析模式。CMI900／950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E：可测量任一测量点，最小可达0.025x0.051毫米样品台选择：CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。
CMI900系列X-射线荧光镀层厚度测量仪样品台选择：
CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：
一：手动样品台
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二：自动样品台
1程控样品台：XYZ轴自动控制。
2超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。
CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：
1全程控样品台：XYZ 三轴程序控制样品台，可接纳的样品高度为150mm，XY 轴程控移动范围为300mm x300mm。 此样品台可实现测定点自动编程控制。
2Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品高度为270mm。
3全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品高度为356mm。
可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。
