高低溫交變?cè)囼?yàn)箱是用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件及科研等領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備,等試驗(yàn)樣品做高低溫例行試驗(yàn)、耐寒試驗(yàn)、高低溫交變?cè)囼?yàn)、低溫儲(chǔ)存,以便在擬定環(huán)境條件下進(jìn)行試驗(yàn)儲(chǔ)存后對(duì)產(chǎn)品的性能或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及產(chǎn)品性能。
參照標(biāo)準(zhǔn)為:
GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度交變)
GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:低溫試驗(yàn)
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)
GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱(IEC60068-2-56)
GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定試驗(yàn)(IEC60068-2-78:2001)
GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變12h+12h循環(huán)(IEC60068-2-30:2005)