符合標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
適用范圍：
基礎(chǔ)應(yīng)用薄膜、薄片、 隔膜適用于薄膜、薄片、隔膜的厚度測試
紙張、紙板：適用于紙張、紙板的厚度測試
箔片、硅片：適用于箔片、硅片的厚度測試
金屬片：適用于金屬片的厚度測試
紡織材料：適用于紡織材料的厚度測試
固體電絕緣體：適用于固體電絕緣體的厚度測試
無紡布材料：適用于無紡布材料的厚度測試，如尿不濕、衛(wèi)生巾片材的厚度測試
擴(kuò)展應(yīng)用：量程擴(kuò)展至5，10mm適用于測試片材、板材的厚度
曲面測量頭：適用于特殊要求的厚度測試
專業(yè)：
采用接觸式測量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。
嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標(biāo)定制
測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的誤差
支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自主選擇
實時顯示測量結(jié)果的值、最小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷
配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性
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采用了研發(fā)的嵌入式計算機(jī)系統(tǒng)平臺，其技術(shù)優(yōu)勢和用戶體驗遠(yuǎn)超傳統(tǒng)的單片機(jī)技術(shù)。
一體化系統(tǒng)設(shè)計，采用嵌入式開發(fā)技術(shù)將專業(yè)的檢測設(shè)備與控制軟件合二為一
專用控制系統(tǒng)從根本上杜絕了由計算機(jī)病毒、誤操作等引起的系統(tǒng)軟件故障，保證了設(shè)備運行的可靠性與數(shù)據(jù)的安全性
系統(tǒng)搭配標(biāo)準(zhǔn)顯示器、鼠標(biāo)、鍵盤，采用Windows操作界面，方便用戶進(jìn)行試驗操作及數(shù)據(jù)展示
系統(tǒng)內(nèi)嵌4個USB接口和2個網(wǎng)口，方便系統(tǒng)的外部接入和數(shù)據(jù)傳輸
智能：
的操作軟件，具有人性化的操作界面和智能化的數(shù)據(jù)處理功能；同時，在局域網(wǎng)的環(huán)境中，還支持LystemTM實驗室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗結(jié)果和試驗報告。
傳感器標(biāo)定智能提示，讓用戶放心使用
軟件內(nèi)嵌電子幫助文檔，方便用戶隨時查閱
系統(tǒng)支持中英文切換，方便不同語言的用戶使用
用戶多級權(quán)限管理，方便實驗室管理人員規(guī)范設(shè)備使用
采用嵌入式數(shù)據(jù)庫存儲技術(shù)，保存每次試驗的詳細(xì)信息，并提供方便、多樣的查詢功能，用戶可按曲線或數(shù)據(jù)列表等方式查看歷史試驗數(shù)據(jù)
系統(tǒng)支持試驗結(jié)果比對，用戶在試驗開始之前設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)數(shù)值和誤差范圍，試驗完成后系統(tǒng)自動判斷各個試驗結(jié)果是否在標(biāo)準(zhǔn)誤差范圍之內(nèi)，并直觀的告知用戶試樣是否合格
標(biāo)定數(shù)據(jù)恢復(fù)功能，有效解決了由誤操作帶來的不利影響，限度地保證了系統(tǒng)工作的安全性；系統(tǒng)可按用戶的方式對關(guān)鍵信息數(shù)據(jù)進(jìn)行修復(fù)，如各傳感器的標(biāo)定數(shù)據(jù)恢復(fù)操作
通過搭配LystemTM實驗室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，試驗數(shù)據(jù)與設(shè)備信息僅需簡單設(shè)置與操作即可上報，輕松實現(xiàn)實驗室測試數(shù)據(jù)的集中化和系統(tǒng)化管理
產(chǎn)品配置：
標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、顯示器、鍵盤、鼠標(biāo)、標(biāo)準(zhǔn)量塊
選購件：測量頭、配重砝碼、打印機(jī)（需兼容標(biāo)準(zhǔn)PCL3打印命令語言）、LystemTM實驗室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)。
