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冷熱沖擊試驗(yàn)箱
高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛用于電子電器零元件、自動(dòng)化零部件、通訊元件、汽車(chē) 配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航太、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子晶片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的元件，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
ZT-225E
內(nèi)箱尺寸 500x750 x 600mm
外箱尺寸約 2100x2200x2050mm
沖擊溫度范圍-20℃~+150℃ 可調(diào)
溫度沖擊時(shí)間5分鐘內(nèi)完成溫度沖擊
蓄冷區(qū)溫度范圍-60℃ 可調(diào)
蓄熱區(qū)溫度范圍170℃ 可調(diào)
降溫速率1℃min （空載非線(xiàn)性）
升溫速率2-3℃min （空載非線(xiàn)性）
溫度穩(wěn)定度±0.5℃
溫度偏差± 1℃
電源電壓380V 13KW
三區(qū)溫度實(shí)驗(yàn)區(qū) 、預(yù)熱區(qū)、預(yù)冷區(qū)
實(shí)驗(yàn)箱測(cè)試區(qū)則放測(cè)試物進(jìn)行測(cè)試
預(yù)熱區(qū)高溫區(qū)負(fù)責(zé)蓄熱
預(yù)冷區(qū)低溫區(qū)負(fù)蓄冷
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