x-rite愛色麗iCPlate2印版檢測儀
X-Rite的便攜式iCPlateⅡ成功解決了直接制版CTP工藝中zui難的問題之一——快速而印版質(zhì)量控制。通過內(nèi)置的高精度攝像機(jī)，iCPlateⅡ能分析印版的網(wǎng)點(diǎn)百分比、網(wǎng)線數(shù)、網(wǎng)點(diǎn)形狀、加網(wǎng)角度等，并顯示在液晶屏上。
x-rite愛色麗iCPlate2印版檢測儀產(chǎn)品詳細(xì)說明
愛色麗iCPlate2印版檢測儀： ——快捷節(jié)能的印版質(zhì)量控制解決方案 X-Rite的便攜式iCPlateⅡ成功解決了直接制版CTP工藝中zui難的問題之一——快速而印版質(zhì)量控制。通過內(nèi)置的高精度攝像機(jī)，iCPlateⅡ能分析印版的網(wǎng)點(diǎn)百分比、網(wǎng)線數(shù)、網(wǎng)點(diǎn)形狀、加網(wǎng)角度等，并顯示在液晶屏上。您只需按一下測量頭，就可以開始測量，并且測量的結(jié)果可以立即在iCPlateⅡ液晶顯示屏上看到，通過iCPlateⅡ您甚至能將網(wǎng)點(diǎn)放大，檢查其形狀，從而看到印版是否有擦痕。由于iCPlateⅡ使用了低功耗的液晶屏，您可以測量30,000次以上而不必更換電池。
iCPlateⅡ系列產(chǎn)品組合有四種供您選擇： iCPlateⅡBasic iCPlateⅡBasic+PQS iCPlateⅡAdvanced iCPlateⅡAdvanced+PQS （注：PQS為可選配*端品控軟件） ·iCPlateⅡBasic為印版測試系統(tǒng)的基本款儀器，它可以測量網(wǎng)點(diǎn)百分比、通過測量做可視分析，適用于印版網(wǎng)點(diǎn)及調(diào)幅網(wǎng)點(diǎn)的樣品測量。 ·iCPlateⅡAdvanced是目前為止功能zui多、適用范圍zui廣的印版測量儀，從CTP版材到傳統(tǒng)印版都可以，通過其環(huán)形照明和三種不同的燈泡，既能測量陰圖版和陽圖版，也能測調(diào)頻或調(diào)幅網(wǎng)點(diǎn)。它可以再現(xiàn)網(wǎng)點(diǎn)直徑、網(wǎng)線數(shù)、網(wǎng)角、印版特性、樣本數(shù)據(jù)、視覺密度,并可利用軟件將此信息傳入電腦。 ·TabwizardⅡ品控軟件和TargetⅡ標(biāo)準(zhǔn)測試軟件是iCPlateⅡAdvanced和iCPlateⅡBasic均包含的兩款軟件，您也可以選配PQS*端品控軟件配合iCPlateⅡ使用。
愛色麗iCPlate2： 功能比較 iCPlate2 X iCPlate2 XT PlateScope 主要功能 簡單的印版測量、檢查 常規(guī)的工作管理和印版測量、檢查 日常工藝控制、嚴(yán)格的工作管理和印版測量、檢查 普通模式可測量所有支持的 印版類型 普通模式可測量所有支持的 印版類型 普通模式可測量所有支持的印版類型， 包括用于特殊用途的高精度測量的特定的 印版圖表 重復(fù)性 高重復(fù)性 高重復(fù)性 zui高重復(fù)性能 標(biāo)準(zhǔn)印版支持 支持大多數(shù)常用的印版類型 支持大多數(shù)常用的印版類型 支持大多數(shù)常用的印版類型 免沖洗印版支持 如果使用特殊的清洗液，支持高反 差免沖洗印版，如AGFA Azura 和Fuji Pro-T低延時印版 如果使用特殊的清洗液，支持高反 差免沖洗印版，如AGFA Azura 和Fuji Pro-T低延時印版 支持高反差免沖洗印版，如AGFA Azura 和Fuji Pro-T低延時印版 易于使用 易于定位、高度可視目標(biāo) 易于定位、高度可視目標(biāo) 容易定位 – 創(chuàng)新的視頻目標(biāo)定位系統(tǒng)可以 在一臂之遙或光線昏暗的條件下定位 連接 串行連接到計算機(jī)的COM端口上 串行連接到計算機(jī)的COM端口上 USB 軟件 包括Capture Tool、PlateQuality 2.0（可選） 包括Capture Tool、PlateQuality 2.0（可選） 包括Capture Tool和PlateQuality 2.0
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