掃描電遷移率粒徑譜儀粉塵儀
TSI 的掃描電遷移率粒徑譜儀廣泛用于測(cè)量空氣中的顆粒尺寸分布的標(biāo)準(zhǔn)。這一系統(tǒng)也經(jīng)常用來(lái)使懸浮在液體中的顆粒的顆粒尺寸的測(cè)量精度。美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所（ NIST ）使用一個(gè) TSI DMA 尺寸為 60 nm 和 100 nm 的標(biāo)準(zhǔn)尺寸的參考材料。掃描電遷移率粒徑譜儀是一個(gè)精確地粒徑檢測(cè)技術(shù)，沒(méi)有假設(shè)顆粒的形狀粒度分布而直接測(cè)量數(shù)濃度。該方法是獨(dú)立的顆粒
掃描電遷移率粒徑譜儀粉塵儀
TSI 的掃描電遷移率粒徑譜儀廣泛用于測(cè)量空氣中的顆粒尺寸分布的標(biāo)準(zhǔn)。這一系統(tǒng)也經(jīng)常用來(lái)使懸浮在液體中的顆粒的顆粒尺寸的測(cè)量精度。美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所（ NIST ）使用一個(gè) TSI DMA 尺寸為 60 nm 和 100 nm 的標(biāo)準(zhǔn)尺寸的參考材料。掃描電遷移率粒徑譜儀是一個(gè)精確地粒徑檢測(cè)技術(shù)，沒(méi)有假設(shè)顆粒的形狀粒度分布而直接測(cè)量數(shù)濃度。該方法是獨(dú)立的顆?；蛄黧w的折射率，并具有高度的絕對(duì)尺寸精度和測(cè)量重復(fù)性。 TSI 模型 3938 是粒徑譜儀的第三代；可信的研究人員超過(guò) 30 年。
特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)
高分辨率數(shù)據(jù)：多達(dá) 167 個(gè)通道
廣泛的尺寸范圍：從 2.5 nm 到 1000 nm
ISO 15900:2009 兼容
快速測(cè)量：＜ 10 秒掃描
寬的濃度范圍內(nèi)， 107 particles/cm3
最大的靈活性組件的設(shè)計(jì)
無(wú)需電腦的操作， 觸摸屏控制
易于安裝與不安裝工具和自動(dòng)發(fā)現(xiàn)部件
離散粒子測(cè)量：適用于多模樣本
獨(dú)立的顆粒和流體的光學(xué)性質(zhì)
寬范圍的系統(tǒng)的選擇：水或丁醇計(jì)數(shù)器供選擇；傳統(tǒng)的或非放射性中和器的選擇
應(yīng)用
納米技術(shù)研究和材料的合成
大氣研究和環(huán)境監(jiān)測(cè)
燃燒和發(fā)動(dòng)機(jī)排氣的研究
室內(nèi)空氣質(zhì)量的測(cè)量
核 / 冷凝的研究
吸入毒理學(xué)研究
內(nèi)容包括
靜電分類(lèi)器與您選擇的 DMA 柱
可兼容六種 CPC
氣溶膠儀器 ® 軟件經(jīng)理
數(shù)據(jù)采集計(jì)算機(jī)必須單獨(dú)購(gòu)買(mǎi)。
美國(guó)TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀(SMPS-3938)信息由美國(guó)TSI集團(tuán)中國(guó)公司為您提供，如您想了解更多關(guān)于美國(guó)TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀(SMPS-3938)報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息，歡迎來(lái)電或留言咨詢(xún)。
