E+H FMR高頻雷達物位計簡介：
E+H FMR系列雷達物位計采用微波脈沖的測量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常，波束能量低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi)，對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大，有惰性氣體及蒸汽存在的場合。雷達物位計對人體及環(huán)境均無傷害，還具有不受介質(zhì)比重的影響，不受介電常數(shù)變化的影響，不需要現(xiàn)場校調(diào)等優(yōu)點，不論是對工業(yè)需要，還是對顧客經(jīng)濟實惠的考慮，都是不錯的選擇。
E+H FMR高頻雷達物位計分類：雷達物位計已成為物位測量儀表市場上的主流產(chǎn)品，主要分為雷達物位計和導波雷達物位計。
工作原理：
雷達物位計發(fā)射功率很低的極短的微波通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收，雷達波以光速運行。
運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和精確的測量。即使存在虛假反射的時候，新的微處理技術(shù)和軟件也可以準確地分析出物位回波。通過輸入容器尺寸，可以將上空距離值轉(zhuǎn)換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調(diào)試。在固體測量中的應(yīng)用可以使用K-頻段的高頻傳感器。由于信號的聚焦效果非常好，料倉內(nèi)的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量。
優(yōu)勢：
可靠的非接觸式測量，不受介質(zhì)和過程條件變化的影響
HistoROM集成數(shù)據(jù)存儲單元，幫助快速調(diào)試、維修和診斷
測量可靠性高，基于多回波追蹤計算，即使倉內(nèi)存在障礙物依然能夠準確測量
硬件和軟件開發(fā)過程符合IEC 61508標準，單臺儀表滿足SIL2， 同構(gòu)冗余條件下達SIL3
無縫集成到控制或設(shè)備管理系統(tǒng)
直觀的菜單引導式操作（在線或通過控制系統(tǒng)）
通過世界的SIL和WHG實驗認證，節(jié)約您的時間和經(jīng)濟成本
應(yīng)用領(lǐng)域：
封裝式PVDF或PP鍍層的喇叭天線。
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過程連接：1½' 螺紋、安裝支架或松套法蘭
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溫度范圍：-40 至 +130°C (-40 至 +266°F)
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壓力范圍：-1 至 +3bar (-14.5 至 +43.5psi)
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大測量范圍：30m (98ft), 40m (131ft) 動力增強
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精度誤差：±2mm
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K波段: 26GHz
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防爆認證, 5-point線性協(xié)議, WHG
