倒置Smarc II激光干涉儀
功能:
◆ 小型平面光學零件的平面度及面形測定;
◆ 各種材料的高精度鏡片的球面測定。
特點:
◆ 結構緊湊;
◆ 低價位,高性能;
◆ 操作簡便,標準的測量/校正切換功能,使光調整更容易方便;
◆ 抗震性能;
◆ 倒置型適宜在加工現(xiàn)場使用;
◆ 配件和參考標準鏡頭種類齊全。
◆ 該口徑的干涉儀分立式和臥式兩種,立式又分為正置、倒置。
Smarc II 激光干涉儀(立式倒置)
技術指標:
測量方式 | 菲索干涉原理 |
口徑 | 25mm |
激光源 | 半導體激光器(λ=635nm) |
分辨率 | 795H*596V |
平面測試精度 | PV λ/20,RMS λ/100 |
球面面形精度 | PV λ/10, RMS λ/50 |
電源 | AC 220V 50HZ |
標準配件 | 10寸液晶顯示器 |
選購件:(詳情參考鏡頭系列)
平面標準鏡
球面標準鏡F/0.6
球面標準鏡F/0.75
球面標準鏡F/1.0
球面標準鏡F/1.5
球面標準鏡F/2.0
球面標準鏡F/3.0
球面標準鏡F/5.0