短期殘影測量儀DI系列
短期殘影測量儀DI系列是弗士達(dá)開發(fā)的用于平板顯示器(FPD)自動(dòng)光學(xué)檢測的儀器。采用制冷型圖像芯片來 獲得高質(zhì)量的拍攝畫質(zhì),同時(shí)集成了光譜儀光路以提升亮度色度的準(zhǔn)確性。不同型號(hào)的分辨率從1160萬像素到 6100萬像素,滿足用戶的不同測試需求。
產(chǎn)品應(yīng)用
產(chǎn)品主要應(yīng)用于微型顯示器、手機(jī)、顯示器、大尺寸電視和背光模組的測試。測量項(xiàng)目:亮度色度均勻性、 畫質(zhì)缺陷檢測(點(diǎn)/線缺陷、表面缺陷)、Mura和漏光檢測、殘影檢測。
硬件特點(diǎn):
• 高分辨率圖像傳感器
• 高靈敏度
• 電子鏡頭控制
• 光譜儀集成
• 多種選擇
軟件模塊
• 亮度色度分析
• 光譜分析測量
• 缺陷檢測
• Mura和漏光檢測
• 殘影測試