日立XRF測厚儀
XRF鍍層測厚和材料分析儀,能為電鍍及表面處理行業(yè)進(jìn)行快速的質(zhì)量控制和驗(yàn)證測試,可以在幾秒內(nèi)就可以獲取準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。鍍層測厚儀強(qiáng)大功能使其成為實(shí)驗(yàn)室的理想選擇:有著安排緊湊的工作流程,但精度、多功能性和效率是維持此工作流程正常運(yùn)轉(zhuǎn)的*要素。
一、產(chǎn)品介紹:
鍍層測厚儀旨在應(yīng)對超薄鍍層的挑戰(zhàn),例如當(dāng)今不斷縮小的電子元器件的鍍層。其提供快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的結(jié)果,有校提高生產(chǎn)力,同時(shí)減少PCB、半導(dǎo)體和微型接口等元器件上鍍層不合規(guī)所帶來的成本浪費(fèi)。FT160系列鍍層測厚儀易于使用、可輕松集成質(zhì)量保證/質(zhì)量控制流程,在問題引發(fā)危機(jī)之前及時(shí)發(fā)出提醒。
FT160系列鍍層測厚儀采用了新款高分辨率樣品觀察相機(jī)和改進(jìn)的照明,樣品的預(yù)覽和測量點(diǎn)的選擇變得更加清晰和簡便。
二、特點(diǎn):
1、高性能XRF鍍層測厚儀,適用于超小部件上的超薄鍍層分析;
2、使用多毛細(xì)管光學(xué)聚焦系統(tǒng),光斑尺寸<50um;
3、數(shù)秒間測試納米級鍍層厚度;
4、簡單易用的操作軟件;
5、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力
三、適用的厚度范圍:
四、XRF結(jié)構(gòu):